Academic Journal
Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ
| Τίτλος: | Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | ОИПИ НАН Беларуси, Республика Беларусь, 2017. |
| Έτος έκδοσης: | 2017 |
| Θεματικοί όροι: | динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых |
| Περιγραφή: | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://openrepository.ru/article?id=217333 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!