Academic Journal
Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ
| Title: | Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ |
|---|---|
| Publisher Information: | ОИПИ НАН Беларуси, Республика Беларусь, 2017. |
| Publication Year: | 2017 |
| Subject Terms: | динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых |
| Description: | Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства. |
| Document Type: | Article |
| Language: | Russian |
| Access URL: | https://openrepository.ru/article?id=217333 |
| Accession Number: | edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a |
| Database: | OpenAIRE |
Be the first to leave a comment!