Academic Journal
View in EDS

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Bibliographic Details
Title: Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ
Publisher Information: ОИПИ НАН Беларуси, Республика Беларусь, 2017.
Publication Year: 2017
Subject Terms: динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых
Description: Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства.
Document Type: Article
Language: Russian
Access URL: https://openrepository.ru/article?id=217333
Accession Number: edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a
Database: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a
RelevancyScore: 796
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 796.4208984375
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: ОИПИ НАН Беларуси, Республика Беларусь, 2017.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2017
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22динамические+оперативные+запоминающие+устройства%22">динамические оперативные запоминающие устройства</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22маршевый+тест%22">маршевый тест</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22псевдоисчерпывающий+тест%22">псевдоисчерпывающий тест</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22публикации+ученых%22">публикации ученых</searchLink>
– Name: Abstract
  Label: Description
  Group: Ab
  Data: Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств. Показывается обоснованность применения псевдо-исчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие генерирования псевдо-исчерпывающего теста для заданного количества ячеек запоминающего устройства.
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: URL
  Label: Access URL
  Group: URL
  Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://openrepository.ru/article?id=217333" linkWindow="_blank">https://openrepository.ru/article?id=217333</link>
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.httpsopenrep..a4a618ac67e0e521fc334f238152398a
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Languages:
      – Text: Russian
    Subjects:
      – SubjectFull: динамические оперативные запоминающие устройства
        Type: general
      – SubjectFull: маршевый тест
        Type: general
      – SubjectFull: псевдоисчерпывающий тест
        Type: general
      – SubjectFull: публикации ученых
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ
        Type: main
  BibRelationships:
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 01
              M: 01
              Type: published
              Y: 2017
          Identifiers:
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
ResultId 1