Academic Journal
Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристаллами
| Τίτλος: | Детектирование дефектов пленок SiO₂ холестерическими жидкими кристаллами |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | 2017. |
| Έτος έκδοσης: | 2017 |
| Θεματικοί όροι: | диэлектрические пленки, физика, электрооптический эффект, кристаллография, холестерические жидкие кристаллы, оксид кремния, дефект пленки, физика твердого тела |
| Περιγραφή: | Рассмотрена возможность регистрации дефектов пленки окиси кремния на кремнии с помощью нескольких электрооптических эффектов, присущих холестерическому жидкому кристаллу |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://openrepository.ru/article?id=11759 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.httpsopenrep..73c463eb9ebabeda9742b110c79f76a8 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
| Η περιγραφή δεν είναι διαθέσιμη |