Report
Разработать базовые конструкции и технологию изготовления элементной базы высокотемпературных КМОП БИС в КНИ структурах: отчет о НИР (заключ.)
| Τίτλος: | Разработать базовые конструкции и технологию изготовления элементной базы высокотемпературных КМОП БИС в КНИ структурах: отчет о НИР (заключ.) |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | БГУИР, 2013. |
| Έτος έκδοσης: | 2013 |
| Θεματικοί όροι: | высокотемпературные схемы, технологический процесс, отчеты о НИР, МОП транзисторы, элементная база, интегральные схемы |
| Περιγραφή: | Проведен анализ физических процессов, протекающих в полупроводниковых кремниевых МОП структурах в объемном кремнии, при увеличении рабочей температуры выше 125°С. Указаны возможные пути устранения эффектов, приводящих к нарушению работоспособности МОП структур, посредством конструктивных, технологических и схемотехнических решений. |
| Τύπος εγγράφου: | External research report |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://openrepository.ru/article?id=216299 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.httpsopenrep..6e0a95787b5a91a534d2410d85cbb550 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!