Academic Journal
View in EDS

Подход к оценке эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учетом временных отказов

Bibliographic Details
Title: Подход к оценке эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учетом временных отказов
Publisher Information: «Аэтерна», Уфа, РФ, 2019.
Publication Year: 2019
Subject Terms: материалы конференций, публикации ученых, микропроцессорные устройства, оценка надёжности, устойчивые и временные отказы
Description: Предложен подход позволяющий оценить надёжность микропроцессорного устройства с учётом не только устойчивых отказов, но и сбоев (временных отказов), что особенно актуально для ответственных микропроцессорных технических систем, обеспечивающих военную или космическую связь
Document Type: Article
Language: Russian
Access URL: https://openrepository.ru/article?id=217584
Accession Number: edsair.httpsopenrep..5ff1716f872622ed2c1a8cdd73c4dcc5
Database: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.httpsopenrep..5ff1716f872622ed2c1a8cdd73c4dcc5
RelevancyScore: 822
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 822.259582519531
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Подход к оценке эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учетом временных отказов
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: «Аэтерна», Уфа, РФ, 2019.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2019
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22материалы+конференций%22">материалы конференций</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22публикации+ученых%22">публикации ученых</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22микропроцессорные+устройства%22">микропроцессорные устройства</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22оценка+надёжности%22">оценка надёжности</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22устойчивые+и+временные+отказы%22">устойчивые и временные отказы</searchLink>
– Name: Abstract
  Label: Description
  Group: Ab
  Data: Предложен подход позволяющий оценить надёжность микропроцессорного устройства с учётом не только устойчивых отказов, но и сбоев (временных отказов), что особенно актуально для ответственных микропроцессорных технических систем, обеспечивающих военную или космическую связь
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: URL
  Label: Access URL
  Group: URL
  Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://openrepository.ru/article?id=217584" linkWindow="_blank">https://openrepository.ru/article?id=217584</link>
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.httpsopenrep..5ff1716f872622ed2c1a8cdd73c4dcc5
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.httpsopenrep..5ff1716f872622ed2c1a8cdd73c4dcc5
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Languages:
      – Text: Russian
    Subjects:
      – SubjectFull: материалы конференций
        Type: general
      – SubjectFull: публикации ученых
        Type: general
      – SubjectFull: микропроцессорные устройства
        Type: general
      – SubjectFull: оценка надёжности
        Type: general
      – SubjectFull: устойчивые и временные отказы
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Подход к оценке эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учетом временных отказов
        Type: main
  BibRelationships:
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 01
              M: 01
              Type: published
              Y: 2019
          Identifiers:
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
ResultId 1