Academic Journal
Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди-полистирол
| Τίτλος: | Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди-полистирол |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | 2000. |
| Έτος έκδοσης: | 2000 |
| Θεματικοί όροι: | органические электронные материалы, композитные пленки, сенсорные свойства, атомно-силовая микроскопия, полистирол, электронные материалы, фталоцианин меди, тонкие сенсорные пленки, металлфталоцианины |
| Περιγραφή: | Методом ACM исследовалось влияние отжига на структуру тонких сенсорных пленок композита металлфталоцианина меди (СиРс) и полистирола (PS), полученных лазерным распылением в вакууме. Обнаружена перекристаллизация СиРс в виде игольчатых кристаллитов при температурах отжига более 200°С. В пленке, отожженной при 200°С, обнаруживаются фазы СиРс и PS, а в пленке, отожженной при 250°С, полимерная фаза не наблюдается, по-видимому, вследствие испарения полимера. Улучшение сенсорных свойств композитных пленок после отжига по сравнению с пленками чистого СиРс объясняется тем, что они имеют пористую структуру и большую эффективную площадь поверхности. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Περιγραφή αρχείου: | application/pdf |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://openrepository.ru/article?id=34275 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.httpsopenrep..32b116e80a52ccdb35124ebd71280cf6 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
| Η περιγραφή δεν είναι διαθέσιμη |