Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
| Τίτλος: |
Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам |
| Στοιχεία εκδότη: |
БГУИР, 2011. |
| Έτος έκδοσης: |
2011 |
| Θεματικοί όροι: |
метод испытания, метод контактного разряда, микроконтроллер, доклады БГУИР, электростатический разряд |
| Περιγραφή: |
Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. |
| Τύπος εγγράφου: |
Article |
| Γλώσσα: |
Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: |
https://openrepository.ru/article?id=213377 |
| Αριθμός Καταχώρησης: |
edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252 |
| Βάση Δεδομένων: |
OpenAIRE |