Academic Journal
Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам
| Τίτλος: | Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | БГУИР, 2011. |
| Έτος έκδοσης: | 2011 |
| Θεματικοί όροι: | метод испытания, метод контактного разряда, микроконтроллер, доклады БГУИР, электростатический разряд |
| Περιγραφή: | Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Γλώσσα: | Russian |
| Σύνδεσμος πρόσβασης: | https://openrepository.ru/article?id=213377 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252 |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!