Academic Journal
Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам
| Title: | Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам |
|---|---|
| Publisher Information: | БГУИР, 2011. |
| Publication Year: | 2011 |
| Subject Terms: | метод испытания, метод контактного разряда, микроконтроллер, доклады БГУИР, электростатический разряд |
| Description: | Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам. |
| Document Type: | Article |
| Language: | Russian |
| Access URL: | https://openrepository.ru/article?id=213377 |
| Accession Number: | edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252 |
| Database: | OpenAIRE |
Be the first to leave a comment!