Academic Journal
View in EDS

Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам

Bibliographic Details
Title: Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам
Publisher Information: БГУИР, 2011.
Publication Year: 2011
Subject Terms: метод испытания, метод контактного разряда, микроконтроллер, доклады БГУИР, электростатический разряд
Description: Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам.
Document Type: Article
Language: Russian
Access URL: https://openrepository.ru/article?id=213377
Accession Number: edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252
Database: OpenAIRE
FullText Text:
  Availability: 0
Header DbId: edsair
DbLabel: OpenAIRE
An: edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252
RelevancyScore: 764
AccessLevel: 3
PubType: Academic Journal
PubTypeId: academicJournal
PreciseRelevancyScore: 764.180358886719
IllustrationInfo
Items – Name: Title
  Label: Title
  Group: Ti
  Data: Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам
– Name: Publisher
  Label: Publisher Information
  Group: PubInfo
  Data: БГУИР, 2011.
– Name: DatePubCY
  Label: Publication Year
  Group: Date
  Data: 2011
– Name: Subject
  Label: Subject Terms
  Group: Su
  Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22метод+испытания%22">метод испытания</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22метод+контактного+разряда%22">метод контактного разряда</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22микроконтроллер%22">микроконтроллер</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22доклады+БГУИР%22">доклады БГУИР</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22электростатический+разряд%22">электростатический разряд</searchLink>
– Name: Abstract
  Label: Description
  Group: Ab
  Data: Экспериментально исследовано воздействие электростатических разрядов на микроконтроллеры типа AT89C51RC. Установлено, что накопленный заряд статического электричества, равный 6,5 кВ, приведет к катастрофическому отказу 100% микроконтроллеров. Предложена методика проведения испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам.
– Name: TypeDocument
  Label: Document Type
  Group: TypDoc
  Data: Article
– Name: Language
  Label: Language
  Group: Lang
  Data: Russian
– Name: URL
  Label: Access URL
  Group: URL
  Data: <link linkTarget="URL" linkTerm="https://openrepository.ru/article?id=213377" linkWindow="_blank">https://openrepository.ru/article?id=213377</link>
– Name: AN
  Label: Accession Number
  Group: ID
  Data: edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252
PLink https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.httpsopenrep..04db819b076be3f1913b5ddceac0c252
RecordInfo BibRecord:
  BibEntity:
    Languages:
      – Text: Russian
    Subjects:
      – SubjectFull: метод испытания
        Type: general
      – SubjectFull: метод контактного разряда
        Type: general
      – SubjectFull: микроконтроллер
        Type: general
      – SubjectFull: доклады БГУИР
        Type: general
      – SubjectFull: электростатический разряд
        Type: general
    Titles:
      – TitleFull: Методика испытания микроконтроллеров на чувствительность к электростатическим разрядам
        Type: main
  BibRelationships:
    IsPartOfRelationships:
      – BibEntity:
          Dates:
            – D: 01
              M: 01
              Type: published
              Y: 2011
          Identifiers:
            – Type: issn-locals
              Value: edsair
ResultId 1