Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
| Τίτλος: |
Analysis of single event effects created by space ionizing radiation in the microcircuits of the interplanetary spaceсrafts radio-electronic equipment |
| Πηγή: |
Вестник НПО им. С.А. Лавочкина. :61-68 |
| Στοιχεία εκδότη: |
Scientific and Production Association named after S.A. Lavochkin, 2021. |
| Έτος έκδοσης: |
2021 |
| Θεματικοί όροι: |
одиночные эффекты – сбои и отказы, ионизирующее излучение космического пространства, single event effects – upsets and failures, spaceсraft, радиоэлектронная аппаратура, radio-electronic equipment, space ionizing radiation, интегральные микросхемы, integrated circuits, космический аппарат |
| Περιγραφή: |
Настоящая статья содержит результаты расчёта частоты и числа (вероятности) случайных одиночных эффектов (сбоев и отказов) в радиоэлектронной аппаратуре (РЭА), вызываемых ионизирующими излучениями космического пространства в период межпланетного полёта космического аппарата. На основании анализа полученных результатов определены критерии отбора сбое- и отказоустойчивых интегральных микросхем в бортовой РЭА This article contains the results of calculation of the rate and number (probability) of random single event effects (upsets and failures) in radio electronic equipment (REE) caused by space ionizing radiation during an interplanetary flight of a spacecraft. Based on the analysis of the results obtained, the criteria for the selection of fault-resistant and failure-resistant integrated circuits in the on-board electronic equipment were determine |
| Τύπος εγγράφου: |
Article |
| Γλώσσα: |
Russian |
| ISSN: |
2075-6941 |
| DOI: |
10.26162/ls.2021.54.4.010 |
| Αριθμός Καταχώρησης: |
edsair.doi...........f4b6aedd19d1fcfae8c92329ad0ba5e7 |
| Βάση Δεδομένων: |
OpenAIRE |