Book
Электронно-микроскопические и рентгеновские методы визуализации акустических волновых полей в твердых телах
| Τίτλος: | Электронно-микроскопические и рентгеновские методы визуализации акустических волновых полей в твердых телах |
|---|---|
| Συγγραφείς: | Рощупкинa, Д.В. |
| Στοιχεία εκδότη: | Издательство ГЕОС, 2022. |
| Έτος έκδοσης: | 2022 |
| Θεματικοί όροι: | синхротронное излучение, поверхностные акустические волны, объемные акустические волны, synchrotron radiation, растровая электронная микроскопия, surface acoustic waves, рентгеновская дифрактометрия, bulk acoustic waves, scanning electron microscopy, X-ray diffraction |
| Περιγραφή: | Рассмотрены возможности визуализации акустических волновых полей в кристаллах методами растровой электронной микроскопии (РЭМ) и рентгеновской дифрактометрии и топографии. Данные методы позволяют не только визуализировать поверхностные и объемные, стоячие и бегущие акустические волны, но и определять амплитуды и длины волн, углы сноса потока акустической энергии. Применение метода растровой электронной микроскопии для визуализации акустических волн в пьезо- и сегнетоэлектрических кристаллах основано на чувствительности эмиссии низкоэнергетических вторичных электронов с поверхности кристаллов к электрическим полям между минимумами и максимумами акустической волны. Исследование акустических волн методами рентгеновской дифрактометрии и топографии основано на процессе дифракции рентгеновского излучения на акустически промодулированном кристалле. Распространение акустических волн в кристалле вызывает синусоидальную модуляцию кристаллической решетки, которая и выступает в качестве дифракционной решетки для рентгеновского излучения. Если метод рентгеновской дифрактометрии основан на анализе дифракционных спектров, так как количество и интенсивность дифракционных сателлитов на кривой качания зависят от амплитуды акустических волн, то метод рентгеновской топографии позволяет на источниках синхротронного излучения в области дифракции Френеля наблюдать прямое изображение акустических волн. The possibilities of visualization of acoustic wave fields in crystals by scanning electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction and topography methods are described. These methods allow not only to visualize the surface and bulk, standing and traveling acoustic waves, but also to determine the amplitudes and wavelengths, power flow angles. Application of the method of scanning electron microscopy to visualize acoustic waves in piezo- and ferroelectric crystals is based on the sensitivity of low-energy secondary electrons emission from the crystal surface to electric fields between minima and maxima of the acoustic wave. Study of acoustic waves by methods of X-ray diffraction and topography is based on the process of X-ray diffraction on an acoustically modulated crystal. The propagation of acoustic waves in the crystal causes a sinusoidal modulation of the crystal lattice, which acts as a diffraction grating for X-ray radiation. If the method of X-ray diffraction is based on the analysis of the diffraction spectra, as the number and intensity of diffraction satellites on the rocking curve depends on the amplitude of acoustic waves, the method of X-ray topography allows to observe the direct image of acoustic waves in the Fresnel diffraction region at synchrotron radiation sources. |
| Τύπος εγγράφου: | Part of book or chapter of book |
| Γλώσσα: | Russian |
| DOI: | 10.34756/geos.2021.17.38153 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.doi...........edda2384c557db806e383772fbb6cd7e |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!