Academic Journal
АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ ЗОНДОВАЯ СТАНЦИЯ ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛОВ ДИОДОВ И ТРАНЗИСТОРОВ
| Title: | АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ ЗОНДОВАЯ СТАНЦИЯ ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛОВ ДИОДОВ И ТРАНЗИСТОРОВ |
|---|---|
| Publisher Information: | ВЕСТНИК ВОРОНЕЖСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ТЕХНИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА, 2019. |
| Publication Year: | 2019 |
| Subject Terms: | кристаллы диодов и транзисторов, гидравлическое демпфирование, монокристаллический материал, 7. Clean energy, зондовое тестирование, рабочий цикл, прецизионный манипулятор |
| Description: | Описано устройство, относящееся к измерительной технике и представляющее собой установку для испытания электрических параметров кристаллов диодов и транзисторов при их производстве. Как один из видов контроля зондовые измерения позволяют оценить основные параметры разрабатываемых полупроводниковых приборов перед их корпусированием в процессе разбраковки и сортировки по параметрам. Благодаря этому удаётся избежать дополнительных затрат и снизить себестоимость выпускаемой продукции. Для проведения указанных измерений необходима зондовая станция, которая позволит соединить исследуемый прибор с измерительным устройством и обеспечить целостность и достоверность полученных результатов. Описаны проблемы, возникающие при измерениях электрических параметров кристаллов диодов и транзисторов на предприятиях радиоэлектронной промышленности. Представлены недостатки современных решений для тестирования кристаллов радиоэлектронных приборов. Показаны пути решения данных проблем и недостатков на примере разработанной установки. Описанная установка является составной частью программноаппаратного комплекса и обеспечивает проверку электрических параметров чипов, отделённых от общей полупроводниковой пластины (заготовки), а также позволяет определить, какие из изготовленных кристаллов исправны и могут быть использованы в дальнейшей работе по монтажу их в корпус. Описаны инновационные решения при проектировании игольчатого контакта и пневматической подачи, описан процесс разработки конструкции, алгоритм работы установки и назначение основных органов управления The described device relates to the measurement technique and presents a setup for testing the electric parameters of the crystals and diode manufacture. As one of the types of control, probe measurements allow us to estimate the main parameters of the developed semiconductor devices prior to their encapsulation in the process of developing and sorting parameters. Through this, it is possible to avoid additional costs and to reduce production costs. To conduct these measurements, a probe station is required, which will connect the studied device with the measuring device and ensure the integrity and validity of the obtained results. The article describes problems that occur when measuring the electric parameters of the crystals and diode on the enterprises of electronic industry. It presents shortcomings of modern solutions for testing crystals electronic devices. It shows the solutions to these problems and shortcomings on the example of the developed installation. The described installation is an integral part of the hardwaresoftware complex and provides verification of electrical parameters of the chips separated from a common semiconductor wafer (workpiece), and also allows one to determine which of the crystals are made serviceable and can be used in further work on mounting them in the housing. The work gives innovative solutions in the design of needle contact and air supply, describes the process of design, algorithm of operation and purpose of the main controls №5 (2019) |
| Document Type: | Article |
| Language: | Russian |
| DOI: | 10.25987/vstu.2019.15.5.014 |
| Accession Number: | edsair.doi...........e8fcebd6c98a1565c573d4aea4f9abf2 |
| Database: | OpenAIRE |
Be the first to leave a comment!