Academic Journal
ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ В РАСТВОРАХ ПАВ
| Τίτλος: | ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ В РАСТВОРАХ ПАВ |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | Zenodo, 2025. |
| Έτος έκδοσης: | 2025 |
| Θεματικοί όροι: | поверхностно-активные вещества (ПАВ), критическая концентрация мицеллообразования (ККМ), мицеллообразование, измерение поверхностного натяжения, электропроводность, оптическая плотность, структура ПАВ, температура раствора |
| Περιγραφή: | В статье рассматриваются методы определения критической концентрации мицеллообразования (ККМ) в растворах поверхностно-активных веществ (ПАВ). Анализируются различные экспериментальные подходы, включая измерение поверхностного натяжения, проводимости и оптической плотности растворов. Полученные данные позволяют оценить влияние структуры ПАВ, температуры и состава среды на значение ККМ. Точное определение ККМ является ключевым для понимания мицеллярных свойств ПАВ и оптимизации их применения в моющих средствах, фармацевтике и других областях промышленности. |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| DOI: | 10.5281/zenodo.15710994 |
| Rights: | CC BY |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.doi...........e01f76209e9d9186a2a3ff272248663d |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!