Academic Journal
Investigating Oxide Material and Thickness Effects on Key Performance Parameters of Dual Source Vertical TFET
| Τίτλος: | Investigating Oxide Material and Thickness Effects on Key Performance Parameters of Dual Source Vertical TFET |
|---|---|
| Συγγραφείς: | Aamina Jalal, Dharmendra Kumar Jhariya, Manish Verma |
| Πηγή: | 2024 12th International Conference on Internet of Everything, Microwave, Embedded, Communication and Networks (IEMECON). :1-5 |
| Στοιχεία εκδότη: | IEEE, 2024. |
| Έτος έκδοσης: | 2024 |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| DOI: | 10.1109/iemecon62401.2024.10845981 |
| Rights: | STM Policy #29 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.doi...........ccabb4dfcda4c5b53bc47286b6de625d |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
καταχωρήστε σχόλιο πρώτοι!