Academic Journal

Investigating Oxide Material and Thickness Effects on Key Performance Parameters of Dual Source Vertical TFET

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Investigating Oxide Material and Thickness Effects on Key Performance Parameters of Dual Source Vertical TFET
Συγγραφείς: Aamina Jalal, Dharmendra Kumar Jhariya, Manish Verma
Πηγή: 2024 12th International Conference on Internet of Everything, Microwave, Embedded, Communication and Networks (IEMECON). :1-5
Στοιχεία εκδότη: IEEE, 2024.
Έτος έκδοσης: 2024
Τύπος εγγράφου: Article
DOI: 10.1109/iemecon62401.2024.10845981
Rights: STM Policy #29
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.doi...........ccabb4dfcda4c5b53bc47286b6de625d
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE
Περιγραφή
DOI:10.1109/iemecon62401.2024.10845981