Academic Journal
ОЦЕНКА КАЧЕСТВА ТЕСТА ВНУТРИСХЕМНОГО КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ СХЕМ
| Title: | ОЦЕНКА КАЧЕСТВА ТЕСТА ВНУТРИСХЕМНОГО КОНТРОЛЯ ЦИФРОВЫХ СХЕМ |
|---|---|
| Publisher Information: | ВЕСТНИК ВОРОНЕЖСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ТЕХНИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА, 2019. |
| Publication Year: | 2019 |
| Subject Terms: | энтропия, бинарная матрица, неисправность типа «константная», цифровое устройство, тестовый контроль, симметрия, неисправность типа «короткое замыкание» |
| Description: | Объектом исследования является тест контроля цифрового устройства на наличие неисправностей, моделируемых как константная и короткое замыкание . Тест представлен бинарной матрицей. Минимальной структурной единицей разбиения бинарной матрицы является ее столбец. В качестве преобразований выбраны перестановки одинаковых столбцов между собой. Такие преобразования сохраняют структуру матрицы. Исследуются свойства симметрии бинарной матрицы и определяется мера ее симметричности. Построенная модель позволила получить энтропийный критерий, позволяющий ранжировать тесты, представляющие собой бинарную матрицу, в порядке их предпочтительности. Показано использование полученных теоретических результатов в задачах тестового контроля цифровых устройств. Представленный критерий позволяет анализировать наличие одиночных неисправностей типа константная и короткое замыкание и определять качество тестов, представленных бинарной матрицей. Контрольные точки могут включать входы цифрового устройства, его выходы и доступные внутренние точки. Предполагалось, что неисправность типа короткое замыкание может возникнуть между любыми контрольными точками тестируемой цифровой схемы, неисправность типа константная в любой контрольной точке тестируемой цифровой схемы. Строились тесты, покрывающие все возможные одиночные неисправности указанных типов в контрольных точках. Представлены результаты исследования полученного критерия. Анализ экспериментальных данных позволяет сделать вывод о целесообразности использования энтропийного критерия в теории и практике тестирования цифровых устройств The object of research is control test to analyze the faults which are modeled as stuckat faults and bridging faults . The test model is a binary matrix. A matrix column is a minimal unit of binary matrixs partitioning into structural elements. The reciprocal permutations of identical matrix columns are selected as transformations. Under such transformations, the matrix structure is preserved. The symmetry properties of a binary matrix are investigated and the symmetry measure of the matrix is calculated. The obtained criteria allow us to rank the tests, represented by the binary matrix, in the order of their preference. The use of the obtained theoretical results in the tasks concerned with test control of digital devices has been shown. The presented criteria allows to analyze the presence of stuckat faults and bridging faults , and to determine the quality of test represented by a binary matrix. The control points can include the inputs of a digital device, its outputs and accessible internal points. It was assumed that a bridging faults could occur between any control points of the digital circuit under test, and stuckat faults in any control points of the digital circuit under test. The tests were devised, checking all possible single faults of specified types at control points. The results of the study of the obtained criterion are presented. The experimental data analysis enables us to make a conclusion about the expediency of using the entropy criteria in the theory and practice of digital device testing №4 (2019) |
| Document Type: | Article |
| Language: | Russian |
| DOI: | 10.25987/vstu.2019.15.4.004 |
| Accession Number: | edsair.doi...........83b4d78cdb0a45adb61503b7b5ab2a10 |
| Database: | OpenAIRE |
| DOI: | 10.25987/vstu.2019.15.4.004 |
|---|