(2021). Исследование характеристик КНИ МОП транзисторов A- и F-типов в расширенном диапазоне температур: Study of Characteristics of SOI MOS Transistors of A- and F-Types in an Extended Temperature Range. Труды НИИСИ РАН, 10, 33. https://doi.org/10.25682/niisi.2020.5_6.0005
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)"Исследование характеристик КНИ МОП транзисторов A- и F-типов в расширенном диапазоне температур: Study of Characteristics of SOI MOS Transistors of A- and F-Types in an Extended Temperature Range." Труды НИИСИ РАН 10 (2021): 33. https://doi.org/10.25682/niisi.2020.5_6.0005.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)"Исследование характеристик КНИ МОП транзисторов A- и F-типов в расширенном диапазоне температур: Study of Characteristics of SOI MOS Transistors of A- and F-Types in an Extended Temperature Range." Труды НИИСИ РАН, vol. 10, 2021, p. 33, https://doi.org/10.25682/niisi.2020.5_6.0005.