Academic Journal
СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ КРИСТАЛЛА СБИС
| Τίτλος: | СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ КРИСТАЛЛА СБИС |
|---|---|
| Στοιχεία εκδότη: | Датчики и системы, 2019. |
| Έτος έκδοσης: | 2019 |
| Θεματικοί όροι: | analog-to-digital converter, надежность СБИС, измерение температуры, аналого-цифровой преобразователь, temperature measurement, VLSI reliability |
| Περιγραφή: | Представлена система измерения температуры микропроцессора с температурным датчиком на основе двух p - n -переходов в прямом смещении, работающих при разных плотностях тока. Аналоговый сигнал с датчика температуры обрабатывается с помощью 10-разрядного АЦП и специализированного контроллера. Система измерения температуры кристалла реализована по технологии КМОП с проектными нормами 65 нм и предназначена для использования в условиях воздействия внешних факторов. A microprocessor temperature measurement system with a temperature sensor based on two p - n -junctions in forward bias operating at different current densities is presented. An analog signal from the temperature sensor is processed using a 10-bit ADC and a dedicated controller. The crystal temperature measurement system is implemented using CMOS technology with design standards of 65 nm and is intended for use under the influence of external factors №6(237) (2020) |
| Τύπος εγγράφου: | Article |
| Γλώσσα: | Russian |
| DOI: | 10.25728/datsys.2019.6.4 |
| Αριθμός Καταχώρησης: | edsair.doi...........2afca962e10cae964ea0ebeaa8d0f21e |
| Βάση Δεδομένων: | OpenAIRE |
| FullText | Text: Availability: 0 |
|---|---|
| Header | DbId: edsair DbLabel: OpenAIRE An: edsair.doi...........2afca962e10cae964ea0ebeaa8d0f21e RelevancyScore: 822 AccessLevel: 3 PubType: Academic Journal PubTypeId: academicJournal PreciseRelevancyScore: 822.318115234375 |
| IllustrationInfo | |
| Items | – Name: Title Label: Title Group: Ti Data: СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ КРИСТАЛЛА СБИС – Name: Publisher Label: Publisher Information Group: PubInfo Data: Датчики и системы, 2019. – Name: DatePubCY Label: Publication Year Group: Date Data: 2019 – Name: Subject Label: Subject Terms Group: Su Data: <searchLink fieldCode="DE" term="%22analog-to-digital+converter%22">analog-to-digital converter</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22надежность+СБИС%22">надежность СБИС</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22измерение+температуры%22">измерение температуры</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22аналого-цифровой+преобразователь%22">аналого-цифровой преобразователь</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22temperature+measurement%22">temperature measurement</searchLink><br /><searchLink fieldCode="DE" term="%22VLSI+reliability%22">VLSI reliability</searchLink> – Name: Abstract Label: Description Group: Ab Data: Представлена система измерения температуры микропроцессора с температурным датчиком на основе двух p - n -переходов в прямом смещении, работающих при разных плотностях тока. Аналоговый сигнал с датчика температуры обрабатывается с помощью 10-разрядного АЦП и специализированного контроллера. Система измерения температуры кристалла реализована по технологии КМОП с проектными нормами 65 нм и предназначена для использования в условиях воздействия внешних факторов.<br />A microprocessor temperature measurement system with a temperature sensor based on two p - n -junctions in forward bias operating at different current densities is presented. An analog signal from the temperature sensor is processed using a 10-bit ADC and a dedicated controller. The crystal temperature measurement system is implemented using CMOS technology with design standards of 65 nm and is intended for use under the influence of external factors<br />№6(237) (2020) – Name: TypeDocument Label: Document Type Group: TypDoc Data: Article – Name: Language Label: Language Group: Lang Data: Russian – Name: DOI Label: DOI Group: ID Data: 10.25728/datsys.2019.6.4 – Name: AN Label: Accession Number Group: ID Data: edsair.doi...........2afca962e10cae964ea0ebeaa8d0f21e |
| PLink | https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsair&AN=edsair.doi...........2afca962e10cae964ea0ebeaa8d0f21e |
| RecordInfo | BibRecord: BibEntity: Identifiers: – Type: doi Value: 10.25728/datsys.2019.6.4 Languages: – Text: Russian Subjects: – SubjectFull: analog-to-digital converter Type: general – SubjectFull: надежность СБИС Type: general – SubjectFull: измерение температуры Type: general – SubjectFull: аналого-цифровой преобразователь Type: general – SubjectFull: temperature measurement Type: general – SubjectFull: VLSI reliability Type: general Titles: – TitleFull: СИСТЕМА ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ КРИСТАЛЛА СБИС Type: main BibRelationships: IsPartOfRelationships: – BibEntity: Dates: – D: 29 M: 06 Type: published Y: 2019 Identifiers: – Type: issn-locals Value: edsair |
| ResultId | 1 |