Polarized reflactance spectroscopy of aluminum nanoantennas on the surface of emitting GeSiSn/Si heterostructures

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τίτλος: Polarized reflactance spectroscopy of aluminum nanoantennas on the surface of emitting GeSiSn/Si heterostructures
Συγγραφείς: Khakhulin, Semyon, Firsov, Dmitrii, Komkov, Oleg, Timofeev, Vyacheslav, Skvortsov, Ilya, Mashanov, Vladimir, Utkin, Dmitry
Στοιχεία εκδότη: St. Petersburg State Polytechnical University Journal. Physics and Mathematics, 2024.
Έτος έκδοσης: 2024
Θεματικοί όροι: поляризационная спектроскопия отражения, aluminum nanoantennas, localized surface plasmon resonance, reflectance anisotropy spectroscopy, LSPR, алюминиевые наноантенны, спектроскопия анизотропного отражения, Polarized reflectance, локализованный поверхностный плазмонный резонанс, RAS
Περιγραφή: The study presents the investigation of the optical properties of the rectangular-shaped aluminum nanoantenna arrays formed on the surface of an emitting GeSiSn/Si heterostructure with multiple quantum wells. The positions of the localized surface plasmon resonance modes excited along the long (L) and short (S) sides of the examined nanoantennas are determined utilizing the technique of Fourier transform infrared reflectance anisotropy spectroscopy. Experimental results demonstrate that both L- and S-modes are located in the near-infrared range, and as the lateral dimensions of the nanoantennas increase, the modes’ positions shift towards lower energies with an increase in the intensity of the resonance. The S-mode appears in the spectra as an overlay on the more pronounced L-mode with an intensity an order of magnitude lower. The geometry of the nanoantennas arrays with the resonance position near the photoluminescence peak of Ge0.84Si0.076Sn0.084/Si heterostructures (E ≈ 0.65 eV) is characterized.
В работе представлены результаты исследования оптических свойств массивов алюминиевых наноантенн прямоугольной формы, сформированных на поверхности гетероструктуры GeSiSn/Si с множественными квантовыми ямами. По спектрам ИК фурье-спектроскопии анизотропного отражения определены положения мод локализованного поверхностного плазмонного резонанса, возникающего вдоль длинной (L) и короткой (S) сторон рассматриваемых наноантенн. Экспериментально показано, что обе моды расположены в ближнем ИК-диапазоне и при увеличении латеральных размеров наноантенн смещаются в сторону меньших энергий с увеличением интенсивности резонанса. S-мода проявляется в спектрах в виде наложения на более интенсивную L-моду и имеет интенсивность на порядок меньше. Среди исследованных образцов определена геометрия массивов наноантенн с резонансом вблизи энергии пика фотолюминесценции гетероструктур Ge0.84Si0.076Sn0.084/Si Е ≈ 0.65 эВ.
Τύπος εγγράφου: Other literature type
Γλώσσα: English
DOI: 10.18721/jpm.171.113
Αριθμός Καταχώρησης: edsair.doi...........0c28d2b74579341a3d3a70df53b65556
Βάση Δεδομένων: OpenAIRE