-
1Academic Journal
Source: Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 67(1) (2024); 25-30
Вестник Киевского политехнического института. Серия приборостроение; № 67(1) (2024); 25-30
Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування; № 67(1) (2024); 25-30Subject Terms: пірометрія з компенсацією випромінювання, напівпровідники A3-B5, light emitting diode, ГФЕ МОС, фотодіод, pyrometry with emissivity compensation, AIII-BV semiconductors, optoelectronic systems for monitoring parameters, світлодіод, оптико-електронні системи контролю параметрів, MOCVD, optical filter, газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, оптичний фільтр, metalorganic chemical vapour deposition, photodiode
File Description: application/pdf
Access URL: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/306723
-
2Academic Journal
Authors: Воронько, Андрій, Новіков , Денис, Вербіцький , Дмитро, Чмир , Максим, Волошин, Олександр, Белькевич, Олексій, Голубець, Маргарита
Source: Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 67(1) (2024); 25-30 ; Вестник Киевского политехнического института. Серия приборостроение; № 67(1) (2024); 25-30 ; Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування; № 67(1) (2024); 25-30 ; 2663-3450 ; 0321-2211
Subject Terms: AIII-BV semiconductors, metalorganic chemical vapour deposition, MOCVD, photodiode, light emitting diode, pyrometry with emissivity compensation, optoelectronic systems for monitoring parameters, optical filter, напівпровідники A3-B5, газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, ГФЕ МОС, фотодіод, світлодіод, пірометрія з компенсацією випромінювання, оптико-електронні системи контролю параметрів, оптичний фільтр
File Description: application/pdf
Relation: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/306723/298388; http://visnykpb.kpi.ua/article/view/306723
Availability: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/306723
-
3Academic Journal
Source: Вестник Киевского политехнического института. Серия приборостроение; № 65(1) (2023); 52-57
Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 65(1) (2023); 52-57
Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування; № 65(1) (2023); 52-57Subject Terms: ГФЕ МОС, emissivity-compensated pyrometry, optoelectronic systems for monitoring parameters, interference filter, оптико-електронні системи контролю параметрів, пірометрія з компенсацією випромінювання, MOCVD, газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, metalorganic chemical vapour deposition, інтерференційний фільтр
File Description: application/pdf
Access URL: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/283332
-
4Academic Journal
Contributors: ELAKPI
Subject Terms: ГФЕ МОС, emissivity-compensated pyrometry, оптико-електронні системи контролю параметрів, optoelectronic systems for monitoring parameters, interference filter, пірометрія з компенсацією випромінювання, газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, MOCVD, metalorganic chemical vapour deposition, інтерференційний фільтр
File Description: application/pdf
Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/58586
-
5Academic Journal
Authors: Воронько, А.О., Новіков, Д.О.
Subject Terms: газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, ГФЕ МОС, пірометрія з компенсацією випромінювання, оптико-електронні системи контролю параметрів, інтерференційний фільтр, metalorganic chemical vapour deposition, MOCVD, emissivity-compensated pyrometry, optoelectronic systems for monitoring parameters, interference filter, 681.7
File Description: Pp. 52-57; application/pdf
Relation: Вісник КПІ. Серія Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 65(1); Воронько, А.О. Залежність точності визначення температури від ширини смуги пропускання інтерференційного фільтра в системах оптичної пірометрії / Воронько А.О., Новіков Д.О. // Вісник КПІ. Серія Приладобудування : збірник наукових праць. – 2023. – Вип. 65(1). – С. 52-57. – Бібліогр.: 14 назв.; 0321-2211 (p); 2663-3450 (e); https://ela.kpi.ua/handle/123456789/58586; https://doi.org/10.20535/1970.65(1).2023.283332; orcid:0000-0003-2899-963X; orcid:0000-0001-5160-7214
Availability: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/58586
https://doi.org/10.20535/1970.65(1).2023.283332 -
6Electronic Resource
Source: Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 67(1) (2024); 25-30; № 67(1) (2024); 25-30; № 67(1) (2024); 25-30; 2663-3450; 0321-2211
Index Terms: AIII-BV semiconductors, metalorganic chemical vapour deposition, MOCVD, photodiode, light emitting diode, pyrometry with emissivity compensation, optoelectronic systems for monitoring parameters, optical filter, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion
-
7Electronic Resource
Source: Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 65(1) (2023); 52-57; № 65(1) (2023); 52-57; № 65(1) (2023); 52-57; 2663-3450; 0321-2211
Index Terms: metalorganic chemical vapour deposition, MOCVD, emissivity-compensated pyrometry, optoelectronic systems for monitoring parameters, interference filter, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion