-
1eBook
Συγγραφείς: Reshi, Hilal AhmadAff5, Pillai, ShreejaAff5, Singh, Avanish PratapAff6, Wani, Aijaz A.Aff7, Dhawan, S. K.Aff8, Shelke, VilasAff5
Συνεισφορές: Kotnala, R. K., editorAff1, Sharma Kaushik, Anjali, editorAff2, Subramanian, S. Shankar, editorAff3, Vishwakarma, Amit K., editorAff4
Πηγή: Advanced Functional Materials for Sustainable Environments. :287-298
-
2Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad 1, 2, Medishetti, Raghavender 3, Ahuja, Aishwarya 4, Balasubramanian, Deepa 5, Babu, Kavita 4, Jaiswal, Manish 5, Chatti, Kiranam 3, Maddika, Subbareddy 1, 6, ∗
Συνδεδεμένο Πλήρες ΚείμενοΠηγή: In Developmental Cell 23 September 2024 59(18):2443-2459
-
3Academic Journal
Συγγραφείς: Sharma, Subhash a, b, ∗, Reshi, Hilal Ahmad c, Siqueiros, Jesús M. b, Raymond Herrera, Oscar b, ∗∗
Συνδεδεμένο Πλήρες ΚείμενοΠηγή: In Ceramics International 15 January 2022 48(2):1805-1813
-
4Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad1 (AUTHOR), Pillai, Shreeja1 (AUTHOR), Singh, Avanish Pratap2,3 (AUTHOR), Dhawan, S. K.2 (AUTHOR), Shelke, Vilas1,4 (AUTHOR) drshelke@gmail.com
Πηγή: Journal of Applied Physics. 2022, Vol. 131 Issue 18, p1-10. 10p.
Θεματικοί όροι: *X-ray photoelectron spectroscopy, *PHOTOELECTRON spectroscopy, *MAGNETIC hysteresis, *ELECTROMAGNETIC interference, *RIETVELD refinement
Συνδεδεμένο Πλήρες Κείμενο -
5Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, Pillai, Shreeja, Singh, Avanish Pratap, Dhawan, S. K., Shelke, Vilas
Πηγή: Journal of Applied Physics; 2022, Vol. 131 Issue 18, p1-10, 10p
Θεματικοί όροι: X-ray photoelectron spectroscopy, PHOTOELECTRON spectroscopy, MAGNETIC hysteresis, ELECTROMAGNETIC interference, RIETVELD refinement
Συνδεδεμένο Πλήρες Κείμενο -
6Book
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, primary, Zargar, Rayees Ahmad, additional
Πηγή: Recent Development in Optoelectronic Devices. 2018/08/29
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://api.intechopen.com/chapter/pdf-download/60961.pdf
-
7Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad
Πηγή: MODID-6d55e02e354:IntechOpen
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
-
8Academic Journal
Συγγραφείς: Yadav, Rashmi, Para, Touseef Ahmad, Reshi, Hilal Ahmad, Pillai, Shreeja, Shelke, Vilas
Συνδεδεμένο Πλήρες ΚείμενοΠηγή: Journal of Materials Science: Materials in Electronics. February 2017 28(3):2970-2975
-
9Academic Journal
Συγγραφείς: Para, Touseef Ahmad, Reshi, Hilal Ahmad, Pillai, Shreeja, Shelke, Vilas
Συνδεδεμένο Πλήρες ΚείμενοΠηγή: Applied Physics A: Materials Science & Processing. August 2016 122(8):1-9
-
10Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, Singh, Avanish P., Pillai, Shreeja, Yadav, Rama Shankar, Dhawan, S. K., Shelke, Vilas
Πηγή: Journal of Materials Chemistry C ; volume 3, issue 4, page 820-827 ; ISSN 2050-7526 2050-7534
-
11Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, Maddika, Subbareddy
Πηγή: SSRN Electronic Journal ; ISSN 1556-5068
Διαθεσιμότητα: http://dx.doi.org/10.2139/ssrn.4231651
-
12Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, Pillai, Shreeja, Shelke, Vilas
Συνδεδεμένο Πλήρες ΚείμενοΠηγή: Journal of Materials Science: Materials in Electronics. September 2014 25(9):3795-3800
-
13Academic Journal
Συγγραφείς: Pillai, Shreeja1, Reshi, Hilal Ahmad1, Bagwaiya, Toshi1, Banerjee, Alok2, Shelke, Vilas1 drshelke@gmail.com
Πηγή: Journal of Applied Physics. 2017, Vol. 122 Issue 10, p1-7. 7p. 1 Diagram, 1 Chart, 7 Graphs.
Θεματικοί όροι: *NANOSTRUCTURED materials, *NANOSTRUCTURES, *MANGANITE, *NANOPARTICLES, *MAGNETIZATION, *MULTIFERROIC materials
Συνδεδεμένο Πλήρες Κείμενο -
14Academic Journal
Συγγραφείς: Pillai, Shreeja, Reshi, Hilal Ahmad, Bagwaiya, Toshi, Banerjee, Alok, Shelke, Vilas
Πηγή: Journal of Applied Physics; 2017, Vol. 122 Issue 10, p1-7, 7p, 1 Diagram, 1 Chart, 7 Graphs
Θεματικοί όροι: NANOSTRUCTURED materials, NANOSTRUCTURES, MANGANITE, NANOPARTICLES, MAGNETIZATION, MULTIFERROIC materials
Συνδεδεμένο Πλήρες Κείμενο -
15Conference
Συγγραφείς: Bagwaiya, Toshi, Khade, Poonam, Reshi, Hilal Ahmad, Bhattacharya, Shovit, Shelke, Vilas, Kaur, Manmeet, Debnath, A. K., Muthe, K. P., Gadkari, S. C.
Πηγή: AIP Conference Proceedings ; volume 1942, page 080076 ; ISSN 0094-243X
-
16Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, Shelke, Vilas
Πηγή: Журнал нано-та електронної фізики, Vol 5, Iss 4, Pp 04053-1-04053-3 (2014)
Θεματικοί όροι: Metal-insulator transitio, Metal-insulator transition, Manganites, Physics, QC1-999, Nanomaterials
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
-
17Conference
Συγγραφείς: Yadav, Rama Shanker, Reshi, Hilal Ahmad, Pillai, Shreeja, Rana, D. S., Shelke, Vilas
Συνεισφορές: Lukichev, Vladimir F., Rudenko, Konstantin V.
Πηγή: SPIE Proceedings ; International Conference on Micro- and Nano-Electronics 2016 ; volume 10224, page 102240A ; ISSN 0277-786X
Διαθεσιμότητα: https://doi.org/10.1117/12.2267059
-
18Conference
Συγγραφείς: Para, Touseef Ahmad, Reshi, Hilal Ahmad, Shelke, Vilas
Πηγή: AIP Conference Proceedings ; ISSN 0094-243X
Διαθεσιμότητα: https://doi.org/10.1063/1.4947656
-
19Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, Singh, Avanish Pratap, Pillai, Shreeja, Para, Touseef Ahmad, Dhawan, S. K., Shelke, Vilas
Θεματικοί όροι: Applied Physics/Condensed Matter
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: http://npl.csircentral.net/2413/1/X-band%20frequency.pdf; Reshi, Hilal Ahmad and Singh, Avanish Pratap and Pillai, Shreeja and Para, Touseef Ahmad and Dhawan, S. K. and Shelke, Vilas (2016) X-band frequency response and electromagnetic interference shielding in multiferroic BiFeO3 nanomaterials. Applied Physics Letters, 109 (14). ISSN 0003-6951
Διαθεσιμότητα: http://npl.csircentral.net/2413/
-
20Academic Journal
Συγγραφείς: Reshi, Hilal Ahmad, Singh, Avanish P., Pillai, Shreeja, Yadav, Rama Shankar, Dhawan, S. K., Shelke, Vilas
Θεματικοί όροι: Materials Science, Applied Physics/Condensed Matter
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: http://npl.csircentral.net/1919/1/226.pdf; Reshi, Hilal Ahmad and Singh, Avanish P. and Pillai, Shreeja and Yadav, Rama Shankar and Dhawan, S. K. and Shelke, Vilas (2015) Nanostructured La0.7Sr0.3MnO3 compounds for effective electromagnetic interference shielding in the X-band frequency range. Journal of Materials Chemistry C, 3 (4). pp. 820-827. ISSN 2050-7526