Modelling of X-Ray Diffraction on Multilayer Objects

Συγγραφείς: Ovcharenko, Artur, Lebedynskyi, Serhii, Lebed, Oleksandr

Πηγή: 2024 37th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC), 2024 37th International. :1-2 Jul, 2024

Relation: 2024 37th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)

A comparative study of path loss over rounded hill using Fresnel-Kirchhoff diffraction theory

Συγγραφείς: Shanker, Yashu, Lobiyal, D. K.

Πηγή: 2017 International Conference on Energy, Communication, Data Analytics and Soft Computing (ICECDS) Energy, Communication, Data Analytics and Soft Computing (ICECDS), 2017 International Conference on. :1305-1307 Aug, 2017

Relation: 2017 International Conference on Energy, Communication, Data Analytics and Soft Computing (ICECDS)

Виявлення структурних особливостей об’єктів методом рентґенівського фазового контрасту ; Detection of Structural Features of Objects Using X-ray Phase Contrast Imaging Method

Συγγραφείς: Ovcharenko, A., Lebed, O.

Πηγή: Ukrainian Journal of Physics; Vol. 69 No. 5 (2024); 293 ; Український фізичний журнал; Том 69 № 5 (2024); 293 ; 2071-0194 ; 2071-0186 ; 10.15407/ujpe69.5

Θεματικοί όροι: рентґенiвський фазовий контраст, хвильовий фронт, дифракцiя рентґенiвського випромiнювання, когерентнiсть, теорiя дифракцiї Френеля–Кiрхгофа, X-ray phase contrast imaging, wave front, X-ray diffraction, coherence, Fresnel-Kirchhoff diffraction theory

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023320/3100; https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023320/3101; https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023320

Διαθεσιμότητα: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023320
https://doi.org/10.15407/ujpe69.5.293

Wave optics and weak gravitational lensing of lights from spherically symmetric static scalar vector tensor Brans Dicke wormholes

Συγγραφείς: Ghaffarnejad, Hossein^{Aff1, IDs10714022028993_cor1}

Πηγή: General Relativity and Gravitation. 54(1)

A Retroreflection Reduction Technique Based on the Wavefront Coded Imaging System

Συγγραφείς: Qing Ye, Yunlong Wu, Yangliang Li, Hao Zhang, Lei Wang, Xiaoquan Sun

Πηγή: Crystals, Vol 11, Iss 1366, p 1366 (2021)

Θεματικοί όροι: cat-eye laser echo, retroreflection reduction, wavefront coded imaging system, Fresnel–Kirchhoff diffraction theory, Crystallography, QD901-999

Relation: https://www.mdpi.com/2073-4352/11/11/1366; https://doaj.org/toc/2073-4352; https://doaj.org/article/3784371f685442ba813e380cf7b054ae

Διαθεσιμότητα: https://doi.org/10.3390/cryst11111366
https://doaj.org/article/3784371f685442ba813e380cf7b054ae

Study of Optical Properties and Structural Features of Object using the X-ray Phase Contrast Method ; Вивчення оптичних властивостей та структурних особливостей об'єктів методом рентгенівського фазового контрасту

Συγγραφείς: Ovcharenko, A.Yu., Lebed, О.А.

Θεματικοί όροι: рентгенівський фазовий контраст, взаємодія випромінювання з речовиною, неруйнівний аналіз, рентгенівська дифракція, теорія дифракції Френеля-Кірхгофа, внутрішня структура, теплове розширення, X-ray phase contrast imaging, radiation matter interaction, non-destructive analysis, X-ray diffraction, Fresnel-Kirchhoff diffraction theory, internal structure, thermal expansion

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/96107

Διαθεσιμότητα: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/96107

Modeling of X-Ray Phase Contrast Imaging of Optically Heterogeneous Objects ; Моделювання рентгенівського фазоконтрастного зображення оптично неоднорідних об'єктів

Συγγραφείς: Ovcharenko, A.Yu., Lebed, О.А.

Θεματικοί όροι: багатошаровий об’єкт, рентгенівське фазо-контрасне зображення, рентгенівська дифракція, теорія дифракції Френеля-Кірхгофа, фазовий профіль, multilayer object, x-ray phase contrast imaging, x-ray diffraction, Fresnel-Kirchhoff diffraction theory, phase profile

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95227

Διαθεσιμότητα: https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/95227

Gaussian diffraction model for Sb thin films in super-resolution near-field structure

Συγγραφείς: Qingling Qu, Yang Wang, Ren LY(任立勇), Jingsong Wei, Fuxi Gan

Θεματικοί όροι: Fresnel-kirchhoff Diffraction Theory, Gaussian Diffraction Model

Relation: SPIE; Qingling Qu, Yang Wang, Liyong Ren, Jingsong Wei, Fuxi Gan.Gaussian diffraction model for Sb thin films in super-resolution near-field structure.见:Seventh International Symposium on Optical Storage.湛江.2005-04-01－2005-04-06.; http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/8095

Διαθεσιμότητα: http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/8095