DEPENDENCE OF TEMPERATURE DETERMINATION ACCURACY ON THE BANDWIDTH OF THE INTERFERENCE FILTER IN OPTICAL PYROMETRY SYSTEMS

Πηγή: Вестник Киевского политехнического института. Серия приборостроение; № 65(1) (2023); 52-57
Bulletin of Kyiv Polytechnic Institute. Series Instrument Making; No. 65(1) (2023); 52-57
Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування; № 65(1) (2023); 52-57

Θεματικοί όροι: ГФЕ МОС, emissivity-compensated pyrometry, optoelectronic systems for monitoring parameters, interference filter, оптико-електронні системи контролю параметрів, пірометрія з компенсацією випромінювання, MOCVD, газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, metalorganic chemical vapour deposition, інтерференційний фільтр

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/283332

Залежність точності визначення температури від ширини смуги пропускання інтерференційного фільтра в системах оптичної пірометрії

Συνεισφορές: ELAKPI

Θεματικοί όροι: ГФЕ МОС, emissivity-compensated pyrometry, оптико-електронні системи контролю параметрів, optoelectronic systems for monitoring parameters, interference filter, пірометрія з компенсацією випромінювання, газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, MOCVD, metalorganic chemical vapour deposition, інтерференційний фільтр

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/58586

Залежність точності визначення температури від ширини смуги пропускання інтерференційного фільтра в системах оптичної пірометрії ; Dependence of temperature determination accuracy on the bandwidth of the interference filter in optical pyrometry systems

Συγγραφείς: Воронько, А.О., Новіков, Д.О.

Θεματικοί όροι: газофазна епітаксія з металоорганічних сполук, ГФЕ МОС, пірометрія з компенсацією випромінювання, оптико-електронні системи контролю параметрів, інтерференційний фільтр, metalorganic chemical vapour deposition, MOCVD, emissivity-compensated pyrometry, optoelectronic systems for monitoring parameters, interference filter, 681.7

Περιγραφή αρχείου: Pp. 52-57; application/pdf

Relation: Вісник КПІ. Серія Приладобудування: збірник наукових праць, Вип. 65(1); Воронько, А.О. Залежність точності визначення температури від ширини смуги пропускання інтерференційного фільтра в системах оптичної пірометрії / Воронько А.О., Новіков Д.О. // Вісник КПІ. Серія Приладобудування : збірник наукових праць. – 2023. – Вип. 65(1). – С. 52-57. – Бібліогр.: 14 назв.; 0321-2211 (p); 2663-3450 (e); https://ela.kpi.ua/handle/123456789/58586; https://doi.org/10.20535/1970.65(1).2023.283332; orcid:0000-0003-2899-963X; orcid:0000-0001-5160-7214

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/58586
https://doi.org/10.20535/1970.65(1).2023.283332

Система стабілізації потужності оптичних імпульсів для пірометра-рефлектометра

Συνεισφορές: Якименко, Юрій Іванович, ELAKPI

Θεματικοί όροι: фотодіод, emissivity-compensated pyrometry, світлодіод, interference filter, пірометрія з компенсацією випромінювання, метод газофазної епітаксії з металоорганічних сполук (гфе мос), silicon photodiode, metalorganic chemical vapour deposition (mocvd), інтерференційний фільтр, light emitting diode

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/67567

РозробкА інтерференційно-абсорбційниХ сВітлофільтріВ нА базовиХ кристалаХ In4(Se3)1-х Te3х ТА CdSb

Συγγραφείς: Стребежев, Володимир Вікторович, Нічий, Сергій Васильович, Юрійчук, Іван Миколайович, Стребежев, Віктор Миколайович

Πηγή: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies

Θεματικοί όροι: Indonesia, CdSb, In4Se3, УДК 621.315 : 535.215, інтерференційний фільтр, интерференционный фильтр, interference filter, інфрачервона область, спектральне пропускання, кристал In4Se3, инфракрасная область, спектральное пропускание, кристалл In4Se3, infrared region, spectral transmittance, CdSb crystals

Διαθεσιμότητα: https://www.neliti.com/publications/309428/rozrobka-interferentsiino-absorbtsiinikh-svitlofiltriv-na-bazovikh-kristalakh-in

ВластивостІ оптичниХ І фотоелектричниХ елементіВ нА основІ кристаліВ In4Se3 , In4(Se3)1-х(Te3)х

Συγγραφείς: Стребежев, Володимир Вікторович, Стребежев, Віктор Миколайович, Нічий, Сергій Васильович, Юрійчук, Іван Миколайович

Πηγή: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies

Θεματικοί όροι: Indonesia, heterojunction, гетеропереход, heterostructure, In4Se3, гетероструктура, УДК 621.315 : 535.215, photosensitivity, фоточувствительность, кристалл, кристал, фоточутливість, інтерференційний фільтр, пропускання, In4(Se3)1-xTe3x, твердий розчин, интерференционный фильтр, пропускания, твердый раствор, interference filter, band-pass filter, transmittance, crystals, solid solution

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Διαθεσιμότητα: https://www.neliti.com/publications/305672/vlastivosti-optichnikh-i-fotoelektrichnikh-elementiv-na-osnovi-kristaliv-in4se3

Розробка інтерференційно-абсорбційних світлофільтрів на базових кристалах In4(Se3)1-х Te3х ТА CdSb

Πηγή: Eastern-European Journal of Enterprise Technologies; Том 6, № 9(72) (2014): Information and controlling system; 55-59
Восточно-Европейский журнал передовых технологий; Том 6, № 9(72) (2014): Информационно-управляющие системы; 55-59
Східно-Європейський журнал передових технологій; Том 6, № 9(72) (2014): Інформаційно-керуючі системи; 55-59

Θεματικοί όροι: interference filter, infrared region, spectral transmittance, In4Se3, CdSb crystals, интерференционный фильтр, инфракрасная область, спектральное пропускание, кристалл In4Se3, CdSb, інтерференційний фільтр, інфрачервона область, спектральне пропускання, кристал In4Se3, УДК 621.315 : 535.215

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://journals.uran.ua/eejet/article/view/31731