Дослідження кристалічної структури і морфології поверхні тонких плівок PbTe та PbTe < Bi2Te3 >

Authors: Y. V. Tur, Y. V. Pavlovskyi, I. S. Virt

Source: Хімія, фізика та технологія поверхні, Vol 11, Iss 2 (2020)

Subject Terms: тонкі плівки, PbTe, імпульсно-лазерне осадження, атомно-силова мікроскопія, Chemistry, QD1-999, Physics, QC1-999

File Description: electronic resource

Relation: https://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/548; https://doaj.org/toc/2079-1704; https://doaj.org/toc/2518-1238

Access URL: https://doaj.org/article/e5f9c4726b744c818d0fd7e2f5ed5519

Measurement of Thermoelectric Parameters of Thin-Film Semiconductor Materials Using the Harman Method ; Вимірювання термоелектричних параметрів тонкоплівкових напівпровідникових матеріалів методом Хармана

Authors: Tur, Y., Pavlovskyi, Y., Virt, I.

Source: Physics and Chemistry of Solid State; Vol. 20 No. 3 (2019); 306-310 ; Фізика і хімія твердого тіла; Том 20 № 3 (2019); 306-310 ; 2309-8589 ; 1729-4428

Subject Terms: thin films, lead telluride, thermoelectric quality factor, the Harman method, pulsed-laser deposition, тонкі плівки, телурид свинцю, термоелектрична добротність, метод Хармана, імпульсно-лазерне осадження

File Description: application/pdf

Relation: https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/624/1063; https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/624/1064; https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/624

Availability: https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/624
https://doi.org/10.15330/pcss.20.3.306-310