фотонное эхо как метод диагностирования возможностей ловушек экситонов и трионов в наноэлектронном приборостроении: PHOTON ECHO AS A METHOD FOR DIAGNOSING THE POSSIBILITIES OF EXCITON AND TRION TRAPS IN NANOELECTRONIC ENGINEERING

Source: Vestnik of Volga State University of Technology. Series Radio Engineering and Infocommunication Systems. :80-89

Subject Terms: регистрация фемтосекундных временных интервалов, trion traps, registration of femtosecond time intervals, трионные ловушки, quantum dots, экситонные ловушки, квантовые точки, magnetron sputtering of thin films, магнетронное распыление тонких плёнок, exciton traps