Model of Digital Image of Metallization Layer of Application Specific Integrated Circuit on Gate-array

Πηγή: Промышленные АСУ и контроллеры.

Θεματικοί όροι: application specific integrated circuits, reverse engineering, параметрическое моделирование изображений, базовый матричный кристалл, обратное проектирование, специализированные интегральные микросхемы, gate-array, parametric image modeling

Distance Estimation Method for Transition Holes of Application Specific Integrated Circuits on Gate-array

Πηγή: Промышленные АСУ и контроллеры.

Θεματικοί όροι: application specific integrated circuits, optical microscopy, переходные отверстия, топология интегральной микросхемы, оптическая микроскопия, digital image processing, reverse engineering, обратное проектирование, специализированные интегральные микросхемы, transition holes, integrated circuit topology, integrated circuit metallization, металлизация интегральных микросхем, цифровая обработка изображений