Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии

Θεματικοί όροι: сканирующая туннельная спектроскопия, тонкие пленки, сканирующая туннельная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, фотоассистированная микроскопия, пленки MEH-PPV

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067

Применение сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии для изучения тонких пленок MEX-PPV

Θεματικοί όροι: сканирующая туннельная спектроскопия, фотоассистированная сканирующая туннельнаяй микроскопия, тонкие пленки MEX-PPV

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://rep.bsatu.by/handle/doc/15608

Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии

Συγγραφείς: Лаппо, Алеся Николаевна, Мисевич, Алексей Васильевич, Почтенный, Артем Евгеньевич

Θεματικοί όροι: тонкие пленки, сканирующая туннельная спектроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, фотоассистированная микроскопия, пленки MEH-PPV, сканирующая зондовая микроскопия

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067; 539.213.2

Διαθεσιμότητα: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067

Применение сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии для изучения тонких пленок MEX-PPV

Συγγραφείς: Мисевич, Алексей Васильевич, Лаппо, Алеся Николаевна, Почтенный, Артем Евгеньевич, Долгий, Валерий Казимирович

Θεματικοί όροι: тонкие пленки MEX-PPV, сканирующая туннельная спектроскопия, фотоассистированная сканирующая туннельнаяй микроскопия

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: Энергосбережение – важнейшее условие инновационного развитияАПК : материалы Международной научно-технической конференции,Минск, 21–22 декабря 2021 г.; https://rep.bsatu.by/handle/doc/15608; 681.7:539.2

Διαθεσιμότητα: https://rep.bsatu.by/handle/doc/15608

Дослідження мікро- та наноструктури міжшарових поверхонь сколювання шаруватих кристалів InSe, інтеркальованих нікелем

Θεματικοί όροι: X-ray photoelectron spectroscopy, Element-phase composition, Topography, Атомная структура, Атомна структура, Interlayer cleavage surfaces, Элементно-фазный состав, Елементно-фазовий склад, Дифракция медленных электронов, Layered crystals, Х-лучевая фото- электронная спектроскопия, Х-променева фотоелектронна спектроскопія, Топографія, Междуслоевые поверхности скалывания, Scanning tunneling microscopy, Сканирующая туннельная микроскопия, Дифракція повільних електронів, Сканирующая туннельная спектроскопия, Слоистые кристаллы, Шаруваті кристали, Scanning tunneling spectroscopy, Low energy electron diffraction, Міжшарові поверхні сколювання, Скануюча тунельна спектроскопія, Топография, Atomic structure, Скануюча тунельна мікроскопія

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812

ИССЛЕДОВАНИЕ МОЛЕКУЛЫ ДНК МЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ

Συγγραφείς: Шарипов, Т., Бахтизин, Р.

Θεματικοί όροι: СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, МОЛЕКУЛА ДНК, ВОЛЬТАМПЕРНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА

Περιγραφή αρχείου: text/html

Διαθεσιμότητα: http://cyberleninka.ru/article/n/issledovanie-molekuly-dnk-metodami-skaniruyuschey-tunnelnoy-spektroskopii
http://cyberleninka.ru/article_covers/14576723.png

Unoccupied topological surface state in Bi2Te2Se

Συγγραφείς: Konstantin A. Kokh, Eugene V. Chulkov, Akio Kimura, Oleg E. Tereshchenko, Masaki Taniguchi, Mao Ye, Eugene E. Krasovskii, Hirofumi Namatame, Masashi Nakatake, Taichi Okuda, Koji Miyamoto, Kenta Kuroda, Munisa Nurmamat

Συνεισφορές: Japan Society for the Promotion of Science, Russian Foundation for Basic Research, Ministerio de Ciencia e Innovación (España), Томский государственный университет Физический факультет Научные подразделения ФФ, Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики металлов

Πηγή: Digital.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
instname
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Physical Review B. 2013. Vol. 88, № 8. P. 081301-1-081301-5

Θεματικοί όροι: сканирующая туннельная спектроскопия, поверхностные состояния, Condensed Matter - Mesoscale and Nanoscale Physics, сканирующая туннельная микроскопия, Mesoscale and Nanoscale Physics (cond-mat.mes-hall), 0103 physical sciences, топологические изоляторы, FOS: Physical sciences, 02 engineering and technology, 0210 nano-technology, 01 natural sciences

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://digital.csic.es/bitstream/10261/102466/1/Unoccupied%20topological.pdf
http://arxiv.org/abs/1305.2134
http://hdl.handle.net/10261/102466
https://arxiv.org/abs/1305.2134
https://arxiv.org/pdf/1305.2134.pdf
https://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.88.081301
https://link.aps.org/pdf/10.1103/PhysRevB.88.081301
https://digital.csic.es/handle/10261/102466
https://www.openrepository.ru/article?id=275477
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000465292

Исследование молекулы ДНК методами сканирующей туннельной спектроскопии

Πηγή: Вестник Башкирского университета.

Θεματικοί όροι: СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ, МОЛЕКУЛА ДНК, ВОЛЬТАМПЕРНАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article_covers/14576723.png
http://cyberleninka.ru/article/n/issledovanie-molekuly-dnk-metodami-skaniruyuschey-tunnelnoy-spektroskopii

Дослідження мікро- та наноструктури міжшарових поверхонь сколювання шаруватих кристалів InSe, інтеркальованих нікелем ; Исследование микро- и наноструктуры межслоевых поверхностей скалывания слоистых кристаллов InSe, интеркалированных никелем ; The Study of Surfaces' Micro- and Nanostructure on Interlayer Cleavages of InSe Layered Crystals Intercalated by Nickel

Συγγραφείς: Галій, П.В., Мазур, П., Ціжевський, А., Яровець, І.Р., Ненчук, Т.М., Сімон, Франк, Бужук, Я.М., Фоменко, В.Л.

Θεματικοί όροι: Шаруваті кристали, Міжшарові поверхні сколювання, Х-променева фотоелектронна спектроскопія, Елементно-фазовий склад, Топографія, Атомна структура, Скануюча тунельна мікроскопія, Скануюча тунельна спектроскопія, Дифракція повільних електронів, Слоистые кристаллы, Междуслоевые поверхности скалывания, Х-лучевая фото- электронная спектроскопия, Элементно-фазный состав, Топография, Атомная структура, Сканирующая туннельная микроскопия, Сканирующая туннельная спектроскопия, Дифракция медленных электронов, Layered crystals, Interlayer cleavage surfaces, X-ray photoelectron spectroscopy, Element-phase composition, Topography, Atomic structure, Scanning tunneling microscopy, Scanning tunneling spectroscopy, Low energy electron diffraction

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812

Διαθεσιμότητα: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/44812