A Fault-tolerant Sequential Circuit Design for Stuck-at Faults and Path Delay Faults

Συγγραφείς: Matrosova, Anjela Yu., Kirienko, Irina E., Nikolaeva, Ekaterina A., Ostanin, Sergey A.

Πηγή: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2017. № 41. С. 61-68

Θεματικοί όροι: самопроверяемые схемы, последовательностные схемы, нерегулярные ошибки, константные неисправности, неисправности задержек путей, отказоустойчивые схемы

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://journals.tsu.ru/uploads/import/1637/files/41_061.pdf
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000624110

Об упрощении схемы самотестируемого детектора (M, N)-кодов для подмножества кодовых слов

Συγγραφείς: Буторина, Наталья Борисовна, Буркатовская, Юлия Борисовна, Пахомова, Елена Григорьевна

Πηγή: Новые информационные технологии в исследовании сложных структур : материалы Тринадцатой Международной конференции, 7–9 сентября 2020 г. Томск, 2020. С. 135

Θεματικοί όροι: детекторы кодов, самопроверяемые схемы, подмножества кодовых слов, программируемые логические блоки

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: vtls:000791941; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000791941

Διαθεσιμότητα: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000791941

A fault-tolerant sequential circuit design for SAFs and PDFs soft errors

Συγγραφείς: Matrosova, Anjela Yu., Kirienko, I. E., Nikolaeva, E. A., Ostanin, S. A.

Πηγή: 2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain. [S. l.], 2016. P. [1-2]

Θεματικοί όροι: отказоустойчивые схемы, самопроверяемые схемы

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: vtls:000616903; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000616903

Διαθεσιμότητα: https://doi.org/10.1109/IOLTS.2016.7604658
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000616903

A fault-tolerant sequential circuit design for soft errors based on fault-secure circuit

Συγγραφείς: Ostanin, S. A., Butorina, Natalia Borisovna, Lavrov, V. A., Matrosova, Anjela Yu.

Πηγή: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2016), Yerevan, Armenia, October 14-17, 2016. [S. l.], 2016. P. 607-610

Θεματικοί όροι: отказоустойчивые схемы, самопроверяемые схемы

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: vtls:000616984; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000616984

Διαθεσιμότητα: https://doi.org/10.1109/EWDTS.2016.7807676
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000616984

Синтез самопроверяемых последовательностных схем для неисправностей задержек путей

Συγγραφείς: Останин, Сергей Александрович, Кириенко, Ирина Евгеньевна, Лавров, Валерий Александрович

Πηγή: Новые информационные технологии в исследовании сложных структур : материалы одиннадцатой международной конференции, 6-10 июня 2016 г. Томск, 2016. С. 56-57

Θεματικοί όροι: самопроверяемые схемы, последовательностные схемы, неисправности задержек путей, самопроверяемые системы

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: vtls:000621149; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000621149

Διαθεσιμότητα: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000621149