XPS studies of the surface of TiO2:Ag nanopowders ; Исследование методом РФС поверхности нанопорошков TiO2:Ag ; Дослідження методом РФС поверхні нанопорошків TiO2:Ag

Authors: Korduban, O. M., Kryshchuk, T. V., Kandyba, V. O., Trachevskii, V. V.

Source: Chemistry, Physics and Technology of Surface; Том 11, № 4 (2020): Хімія, фізика та технологія поверхні; 547-555 ; Химия, физика и технология поверхности; Том 11, № 4 (2020): Хімія, фізика та технологія поверхні; 547-555 ; Хімія, фізика та технологія поверхні; Том 11, № 4 (2020): Хімія, фізика та технологія поверхні; 547-555 ; 2518-1238 ; 2079-1704 ; 10.15407/hftp11.04

Subject Terms: n-TiO2, n-TiO2:Ag, X-ray photoelectron spectroscopy, electric explosion of wires, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электрический взрыв проводников, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, електричний вибух провідників

File Description: application/pdf

Relation: http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/572/578; http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/572

Availability: http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/572
https://doi.org/10.15407/hftp11.04.547

Distribution of chemical elements in the surface layer of the films implanted ions si+ with yttrium iron garnet ; Распределение химических элементов в поверхностном слое имплантированых ионами si+ пленок железо-иттриевого граната ; Розподіл хімічних елементів в поверхневому шарі імплантованих іонами SI+ плівок залізо-ітрієвого гранату

Authors: Пилипів, В. М., Коцюбинський, В. О., Гарпуль, О. З., Гасюк, І. М.

Contributors: Міністерство освіти і науки України

Source: Физическая инженерия поверхности; Том 12, № 1 (2014): Фізична інженерія поверхні; 39-44 ; Фізична інженерія поверхні; Том 12, № 1 (2014): Фізична інженерія поверхні; 39-44 ; 1999-8112 ; 1999-8074

Subject Terms: ironyttrium garnet, Xray photoelectron spectroscopy, electron levels, железоиттриевый гранат, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронные уровни, залізо­ітрієвий гранат, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, електронні рівні

File Description: application/pdf

Relation: http://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8228/7702; http://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8228

Availability: http://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8228

Investigation of the local environment of aminodiphosphonic acid covalently immobilized on silica surface by XPS and solid-state 31P NMR ; Исследование локального окружения аминодифосфоновой кислоты, ковалентно закрепленной на поверхности кремнезема, методами РФЭС и 31P ЯМР спектроскопии ; Дослідження локального оточення амінодифосфонової кислоти на поверхні ковалентно модифікованого діоксиду кремнію методами РФЕC та 31Р ЯМР спектроскопії

Authors: Kostenko, L. S., Andreev, A. S., Fraissard, J., Alekseev, S. A., Zaitsev, V. N.

Source: Chemistry, Physics and Technology of Surface; Том 7, № 1 (2016): Хімія, фізика та технологія поверхні; 20-30 ; Химия, физика и технология поверхности; Том 7, № 1 (2016): Хімія, фізика та технологія поверхні; 20-30 ; Хімія, фізика та технологія поверхні; Том 7, № 1 (2016): Хімія, фізика та технологія поверхні; 20-30 ; 2518-1238 ; 2079-1704 ; 10.15407/hftp07.01

Subject Terms: chemically modified silica, aminodiphosphonic acid, grafted groups, local heterogeneity, solid state NMR, XPS, химически модифицированные кремнеземы, аминодифосфоновые кислоты, привитые группы, локальная неоднородность, твердотельная ЯМР-спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, хімічно-модифіковані кремнеземи, амінодифосфонові кислоти, закріплені групи, локальна неоднорідність, твердотільний ЯМР, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія

File Description: application/pdf

Relation: http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/362/359; http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/362

Availability: http://cpts.com.ua/index.php/cpts/article/view/362
https://doi.org/10.15407/hftp07.01.020

Структурні перетворення наношарів AsXS100-X: рентгенфотоелектронні та електронномікроскопічні дослідження

Source: Scientific Herald of Uzhhorod University.Series Physics; Том 41 (2017); 33-40
Научный вестник Ужгородского университета. Серия Физика; Том 41 (2017); 33-40
Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика; Том 41 (2017); 33-40

Subject Terms: Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Аморфная пленка, Лазерное облучение, Сканирующая электронная микроскопия, Структурные единицы, Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, Аморфна плівка, Лазерне опромінення, Скануюча електронна мікроскопія, Структурні одиниці, X-ray photoelectron spectroscopy, Amorphous film, Laser irradiation, Scanning electron microscopy, Structural units, 539.21:537.1

File Description: application/pdf

Access URL: http://fizyka-visnyk.uzhnu.edu.ua/article/view/111712

X-ray Photoelectron Spectroscopy Study of Electronic Structure of Graphene Nanosheets ; Дослідження електронної структури графенових нанолистів методом рентгенівської фотоелектронної спектроскопії

Authors: Ilkiv, B.I., Petrovska, S.S., Sergienko, R.A., Foya, О.О., Ilkiv, O.V., Bondarenko, T.N., Shibata, E., Nakamura, T., Zaulychnyy, Ya.V.

Source: Physics and Chemistry of Solid State; Vol. 16 No. 2 (2015); 289-292 ; Фізика і хімія твердого тіла; Том 16 № 2 (2015); 289-292 ; 2309-8589 ; 1729-4428

Subject Terms: X-ray photoelectron spectroscopy, electronic structure, graphene nanosheets, oxidized graphene nanosheets, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, електронна структура, графенові нанолисти, окислені графенові нанолисти

File Description: application/pdf

Relation: https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/1673/2117; https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/1673

Availability: https://journals.pnu.edu.ua/index.php/pcss/article/view/1673
https://doi.org/10.15330/pcss.16.2.289-292

Склад та локальне оточення атомів в плівках As2Se3 та їх зміна при дії когерентного випромінювання

Contributors: Domus Hungarica Scientiarum et Artium Programme

Source: Scientific Herald of Uzhhorod University.Series Physics; Том 40 (2016); 54-61
Научный вестник Ужгородского университета. Серия Физика; Том 40 (2016); 54-61
Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика; Том 40 (2016); 54-61

Subject Terms: 539.21:537.1, Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, Раманспектроскопія, Аморфна плівка, Лазерне опромінення, Структурні одиниці, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Раман-спектроскопия, Аморфная пленка, Лазерное облучение, Структурные единицы, X-ray photoelectron spectroscopy, Raman spectroscopy, Amorphous film, Laser irradiation, Structural units

File Description: application/pdf

Access URL: http://fizyka-visnyk.uzhnu.edu.ua/article/view/111664

Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження структури приповерхневих шарів нектристалічних халькогенідних матеріалів

Source: Scientific Herald of Uzhhorod University.Series Physics; Том 38 (2015); 8-17
Научный вестник Ужгородского университета. Серия Физика; Том 38 (2015); 8-17
Науковий вісник Ужгородського університету. Серія Фізика; Том 38 (2015); 8-17

Subject Terms: рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (XPS), фотоелектронна спектроскопія з використанням синхротронного випромінювання (SRPES), некристалічні халькогеніди, структурні одиниці, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS), фотоэлектронная спектроскопия с использованием синхротронного излучения (SRPES), некристаллические халькогениды, структурне единицы, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation (SRPES), amorphous chalcogenides, structural units, 539.21:537.1

File Description: application/pdf

Access URL: http://fizyka-visnyk.uzhnu.edu.ua/article/view/110324

Electronic structure of AgCd2GaS4

Authors: Tretyak, Alina, Bulatetska, Lesya, Bekenev, Valeriy, Parasyuk, Oleg, Khyzhun, Oleg, Bozhko, Volodymyr

Subject Terms: Electronic structure, X-ray photoelectron spectroscopy, 13. Climate action, електронна структура, розрахунок електронної структури з перших принципів, AgCd2GaS4, First-principles band-structure calculations, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, щільність станів, 7. Clean energy, densities of states

Access URL: http://esnuir.eenu.edu.ua/handle/123456789/5284

Електрофізичні, структурні і фізико-хімічні властивості нанопоруватих графітових плівок

Contributors: Назаров, Олексій Миколайович, ELAKPI

Subject Terms: вольт-амперна характеристика, вуглецеві плівки, Raman scattering, X-ray photoelectron spectroscopy, електрична провідність, electrical conductivity, volt-ampere characteristics, електричний опір, carbon films, інфрачервона спектроскопія, X-ray reflectometry method, метод рентгенівської рефлектометрії, скануюча електронна мікроскопія, IR spectroscopy, комбінаційне розсіювання світла, electrical resistance, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, scanning electron microscopy

File Description: application/pdf

Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33811

Стільниковий каталізатор очищення викидних газів від оксидів нітрогену у виробництві нітратної кислоти

Authors: Векшин, Віталій Олександрович, Лобойко, Олексій Якович, Кобзєв, Олександр Вікторович

Subject Terms: хімічна промисловість, неорганічні речовини, каталітичні системи, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, фізико-хімічні дослідження

File Description: application/pdf

Relation: Векшин В. О. Стільниковий каталізатор очищення викидних газів від оксидів нітрогену у виробництві нітратної кислоти / В. О. Векшин, О. Я. Лобойко, О. В. Кобзєв // The problems of air pollution and purification: control, monitoring, catalytic, photocatalytic and sorption methods of treatment : proc. of the Ukrainian‐Polish conf., November 6-8, 2016, Kyiv = Проблеми забруднення та очистки повітря: контроль, моніторинг, каталітичні, фотокаталітичні та сорбційні методи очистки : матеріали конф., 6-8 листопада 2016 р., Київ. – Дніпро : Середняк Т. К., 2016. – С. 65-66.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/50608; orcid.org/0000-0003-2834-8773; orcid.org/0000-0003-2048-5685

Availability: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/50608

Стільниковий каталізатор очищення викидних газів від оксидів нітрогену у виробництві нітратної кислоти

Subject Terms: неорганічні речовини, каталітичні системи, хімічна промисловість, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, фізико-хімічні дослідження

File Description: application/pdf

Access URL: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/50608

Електрофізичні, структурні і фізико-хімічні властивості нанопоруватих графітових плівок

Authors: Бочкур, Ніна Віталіївна

Contributors: Назаров, Олексій Миколайович

Subject Terms: електричний опір, скануюча електронна мікроскопія, інфрачервона спектроскопія, комбінаційне розсіювання світла, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, метод рентгенівської рефлектометрії, вольт-амперна характеристика, вуглецеві плівки, електрична провідність, scanning electron microscopy, electrical resistance, carbon films, electrical conductivity, volt-ampere characteristics, X-ray photoelectron spectroscopy, X-ray reflectometry method, IR spectroscopy, Raman scattering, 539.217.1

File Description: 94 с.; application/pdf

Relation: Бочкур, Н. В. Електрофізичні, структурні і фізико-хімічні властивості нанопоруватих графітизованих плівок : магістерська дис. : 104 Фізика та астрономія / Бочкур Ніна Віталіївна. – Київ, 2020. – 94 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33811

Availability: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/33811

Обгрунтування практичного застосування модифікованих титанових сплавів

Authors: Машовець, Н.С., Пастух, І.М., Каплун, Віталій Григорович

Subject Terms: модифікація поверхні титанового сплаву, безводневе азотування, рентгеноструктурний аналіз, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, електронна оже‐спектроскопія, 621.78/(66.088+537.52+66.046)

File Description: application/pdf

Relation: Обгрунтування практичного застосування модифікованих титанових сплавів [Текст] / Н. С. Машовець, І. М. Пастух, В. Г. Каплун, С. М. Волошко // Вісник Хмельницького національного університету. Технічні науки. – 2011. – № 1. – С. 15-18.; http://elar.khmnu.edu.ua/jspui/handle/123456789/281

Availability: http://elar.khmnu.edu.ua/jspui/handle/123456789/281