-
1Academic Journal
Authors: Vashchenko, Vyacheslav, Yatsenko, Irina, Kovalenko, Yuriy, Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Lytvyn, P.M., Korchovyi, A.A., Mamykin, S.V., Kondratenko, O.S., Maslov, V.P., Dorozinska, H.V., Dorozinsky, G.V.
Source: Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, Vol 22, Iss 4, Pp 444-451 (2019)
Subject Terms: поверхневий плазмонний резонанс, X-ray reflectometry, Physics, QC1-999, рентгенівська рефлектометрія, sensitivity, 01 natural sciences, чутливість, електронно-променева обробка, еліпсометрія, electron-beam processing, 0103 physical sciences, x-ray reflectometry, atomic-force microscopy, атомно-силова мікроскопія, surface plasmon resonance, ellipsometry
File Description: application/pdf
-
2Academic Journal
Authors: Demydenko, Maksym Hennadiiovych, Protsenko, Serhii Ivanovych, Tyshchenko, Kostiantyn Volodymyrovych, Fedchenko, Olena Viktorivna
Subject Terms: оптичні коефіцієнти, співвідно- шення Френеля, генетичні алгоритми, рентгенівська рефлектометрія, нуль-еліпсометрія
File Description: application/pdf
-
3Academic Journal
Authors: Демиденко, Максим Геннадійович, Демиденко, Максим Геннадьевич, Demydenko, Maksym Hennadiiovych, Проценко, Сергій Іванович, Проценко, Сергей Иванович, Protsenko, Serhii Ivanovych, Тищенко, Костянтин Володимирович, Тищенко, Константин Владимирович, Tyshchenko, Kostiantyn Volodymyrovych, Федченко, Олена Вікторівна, Федченко, Елена Викторовна, Fedchenko, Olena Viktorivna
Subject Terms: нуль-еліпсометрія, рентгенівська рефлектометрія, оптичні коефіцієнти, співвідно- шення Френеля, генетичні алгоритми
File Description: application/pdf
Availability: http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/27811