Моделювання та порівняння характеристик випромінювання імпульсних рентгенівських апаратів різних типів

Συνεισφορές: ELAKPI

Θεματικοί όροι: CCD-matrix, semiconductor materials, X-ray television system, non-destructive testing, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, рентгеновідикон, напівпровідникові матеріали, simulation, X-ray vidicon, ПЗЗ-матриця, моделювання

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61887

Відносна чутливість дефектоскопічного контролю напівпровідникових матеріалів

Συνεισφορές: ELAKPI

Θεματικοί όροι: CCD-matrix, semiconductor materials, X-ray television system, non-destructive testing, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, рентгеновідикон, напівпровідникові матеріали, simulation, X-ray vidicon, ПЗЗ-матриця, моделювання

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61920

Поглинання рентгенівського випромінювання в кремнію та германію

Συνεισφορές: ELAKPI

Θεματικοί όροι: CCD-matrix, semiconductor materials, X-ray television system, non-destructive testing, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, рентгеновідикон, напівпровідникові матеріали, simulation, X-ray vidicon, ПЗЗ-матриця, моделювання

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61867

Моделювання та порівняння характеристик випромінювання імпульсних рентгенівських апаратів різних типів ; Simulation and comparison of radiation characteristics of pulse X-ray devices of different types

Συγγραφείς: Слободян, Ніна Вячеславівна

Θεματικοί όροι: X-ray television system, non-destructive testing, simulation, X-ray vidicon, CCD-matrix, semiconductor materials, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, моделювання, рентгеновідикон, ПЗЗ-матриця, напівпровідникові матеріали, 621.397.2:621.386

Περιγραφή αρχείου: С. 33-36; application/pdf

Relation: Электроника и связь, 2006, Тематический выпуск «Проблемы электроники», часть 2; Слободян, Н. В. Моделювання та порівняння характеристик випромінювання імпульсних рентгенівських апаратів різних типів / Н. В. Слободян // Электроника и связь. – 2006. – Тематический выпуск «Проблемы электроники», часть 2. – С. 33-36.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61887; orcid:0000-0002-1515-1050

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61887

Відносна чутливість дефектоскопічного контролю напівпровідникових матеріалів ; Relative sensitivity of defectoscopic control of semiconductor materials

Συγγραφείς: Слободян, Ніна Вячеславівна

Θεματικοί όροι: X-ray television system, non-destructive testing, simulation, X-ray vidicon, CCD-matrix, semiconductor materials, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, моделювання, рентгеновідикон, ПЗЗ-матриця, напівпровідникові матеріали, 623.397.13

Περιγραφή αρχείου: С. 96-99; application/pdf

Relation: Электроника и связь, 2004, №22; Слободян, Н. В. Відносна чутливість дефектоскопічного контролю напівпровідникових матеріалів / Н. В. Слободян // Электроника и связь. – 2004. – №22. – С. 96-99; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61920; orcid:0000-0002-1515-1050

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61920

Поглинання рентгенівського випромінювання в кремнію та германію ; Absorption of X-ray radiation in silicon and germanium

Συγγραφείς: Денбновецький, Станіслав Володимирович, Лещишин, Олександр Володимирович, Слободян, Ніна Вячеславівна

Θεματικοί όροι: X-ray television system, non-destructive testing, simulation, X-ray vidicon, CCD-matrix, semiconductor materials, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, моделювання, рентгеновідикон, ПЗЗ-матриця, напівпровідникові матеріали, 621.397.13

Περιγραφή αρχείου: С. 109-112; application/pdf

Relation: Электроника и связь, 2003, №20; Денбновецький, С. В. Поглинання рентгенівського випромінювання в кремнію та германію / Денбновецький С. В., Лещишин О. В., Слободян Н. В. // Электроника и связь. – 2003 – №20. – С. 109 – 112.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61867; orcid:0000-0002-1515-1050

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61867

Simulation of defectoscopic X-ray television systems for non-destructive testing of semiconductor materials

Συγγραφείς: Slobodian, Nina

Συνεισφορές: Denbnovetsky, Stanislav, ELAKPI

Θεματικοί όροι: CCD-matrix, semiconductor materials, X-ray television system, non-destructive testing, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, рентгеновідикон, напівпровідникові матеріали, simulation, X-ray vidicon, ПЗЗ-матриця, моделювання

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61711

Моделювання дефектоскопічних рентгенотелевізійних систем для дослідження напівпровідникових матеріалів

Συνεισφορές: Денбновецький, Станіслав Володимирович, ELAKPI

Θεματικοί όροι: CCD-matrix, semiconductor materials, X-ray television system, non-destructive testing, simulation, ПЗЗ-матриця, 7. Clean energy, 13. Climate action, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, рентгеновідикон, напівпровідникові матеріали, X-ray vidicon, моделювання

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61668

Моделювання дефектоскопічних рентгенотелевізійних систем для дослідження напівпровідникових матеріалів ; Simulation of defectoscopic X-ray television systems for non-destructive testing of semiconductor materials

Συγγραφείς: Слободян, Ніна Вячеславівна

Συνεισφορές: Денбновецький, Станіслав Володимирович

Θεματικοί όροι: X-ray television system, non-destructive testing, simulation, X-ray vidicon, CCD-matrix, semiconductor materials, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, моделювання, рентгеновідикон, ПЗЗ-матриця, напівпровідникові матеріали, 621.397.2:621.386

Περιγραφή αρχείου: 236 с.; application/pdf

Relation: Слободян, Н. В. Моделювання дефектоскопічних рентгенотелевізійних систем для дослідження напівпровідникових матеріалів : дис. . канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Слободян Ніна Вячеславівна. – Київ : НТУУ «КПІ», 2007. – 236 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61681; orcid:0000-0002-1515-1050

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61681

Simulation of defectoscopic X-ray television systems for non-destructive testing of semiconductor materials ; Моделювання дефектоскопічних рентгенотелевізійних систем для дослідження напівпровідникових матеріалів

Συγγραφείς: Slobodian, Nina

Συνεισφορές: Denbnovetsky, Stanislav

Θεματικοί όροι: X-ray television system, non-destructive testing, simulation, X-ray vidicon, CCD-matrix, semiconductor materials, рентгенотелевізійна система, неруйнівний контроль, моделювання, рентгеновідикон, ПЗЗ-матриця, напівпровідникові матеріали, 621.397.2:621.386

Περιγραφή αρχείου: 23 p.; application/pdf

Relation: Slobodian, N. V. Simulation of defectoscopic X-ray television systems for non-destructive testing of semiconductor materials : thesis abstract . candidate technical of science : 05.27.01 – solid-state electronics. – Kyiv : National technical university of Ukraine “KPI”, 2007. – 23 p.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61711; orcid:0000-0002-1515-1050

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/61711