Рентгеновская рефлектометрия в исследованиях твердых и жидких слоистых структур

Θεματικοί όροι: Рентгеновская рефлектометрия, твердые и жидкие слоистые структуры

ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ПЛЁНОК КОБАЛЬТА И ЖЕЛЕЗА МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ

Θεματικοί όροι: film thickness, thin films, тонкие плёнки, roughness analysis, рентгеновская рефлектометрия, толщина пленки, x-ray reflectometry, modeling, анализ шероховатости, моделирование

Структура тонких пленок co/pd с перпендикулярной магнитной анизотропией ; Structure of co/pd thin films with perpendicular magnetic anisotropy

Συγγραφείς: Максименко, А.А., Maximenko, A.A.

Θεματικοί όροι: тонкие пленки Co/Pd, перпендикулярная магнитная анизотропия, интерфейсы многослойных тонких пленок, кристаллическая структура тонких плёнок, рентгеновская рефлектометрия, рентгеноструктурный анализ тонких пленок, рентгеноструктурный анализ тонких пленок с наклоном вектора дифракции относительно нормали к поверхности, Co/Pdthin films, perpendicular magnetic anisotropy, interfaces of multilayered thin films, crystal structure of thin films, X-ray reflectivity, thin films analysis by X-ray diffraction, X-ray diffraction of thin films with inclination of diffraction vector with respect tothe surface normal

Relation: http://rour.neicon.ru:80/xmlui/bitstream/rour/206016/1/nora.pdf; 539.8; https://openrepository.ru/article?id=206016

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=206016

Структура тонких пленок co/pd с перпендикулярной магнитной анизотропией

Συγγραφείς: Maximenko, A.A.

Θεματικοί όροι: Co/Pdthin films, рентгеноструктурный анализ тонких пленок, рентгеноструктурный анализ тонких пленок с наклоном вектора дифракции относительно нормали к поверхности, перпендикулярная магнитная анизотропия, crystal structure of thin films, X-ray diffraction of thin films with inclination of diffraction vector with respect tothe surface normal, интерфейсы многослойных тонких пленок, perpendicular magnetic anisotropy, рентгеновская рефлектометрия, тонкие пленки Co/Pd, X-ray reflectivity, кристаллическая структура тонких плёнок, thin films analysis by X-ray diffraction, interfaces of multilayered thin films

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=206016

A change in the morphology of multilayer porous silicon with a stepwise decrease in the etching current density

Συγγραφείς: Lenshin, Alexander, Peshkov, Yaroslav, Chernousova, Olga, Kannykin, Sergey, Grechkina, Margarita, Minakov, Dmitriy, Zolotukhin, Dmitriy, Agapov, Boris

Θεματικοί όροι: porous silicon, multilayer nanostructures, рентгеновская рефлектометрия, морфология поверхности, surface morphology, многослойные наноструктуры, X-ray reflectivity, пористый кремний

APPLICATION OF IN SITU X–RAY REFLECTIVITY FOR DETERMINING PARAMETERS OF NANOSCALE SILICON FILMS ; ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА IN SITU РЕНТГЕНОВСКОЙ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ НАНОРАЗМЕРНЫХ ПЛЕНОК КРЕМНИЯ

Συγγραφείς: I. S. Smirnov, E. G. Novoselova, A. A. Egorov, I. S. Monakhov, И. С. Смирнов, Е. Г. Новоселова, А. А. Егоров, И. С. Монахов

Πηγή: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; № 1 (2013); 35-37 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; № 1 (2013); 35-37 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2013-1

Θεματικοί όροι: рентгеновская рефлектометрия, magnetron sputtering, X−ray reflectivity, магнетронное напыление

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/34/30; Новоселова, Е. Г. Материалы IV Междунар. науч. семинара «Современные методы анализа дифракционных данных» / Е. Г. Новоселова, И. С. Смирнов, М. Г. Тюрганов. – В. Новгород, 2008. – С. 150—152.; Мишетт, А. Оптика мягкого рентгеновского излучения / А. Мишетт. – М. : Мир, 1989. – 351 с.; Tolan, M. X-ray scattering from soft matter thin films. Material science and basic research. // M. Tolan / Springer tracts in modern physics. – 1999. – V. 148. – P. 197.; Виноградов, А. В. Зеркальная рентгеновская оптика / А. В. Виноградов, И. А. Брытов, А. Я. Грудский и др. – Л. : Машиностроение, 1989. – 463 с.; Белянин, А. Ф. Наноматериалы. IV. Тонкие пленки как наноструктурированные системы / А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович. – М. : ЦНИТИ «Техномаш», 2008. – 256 с.; https://met.misis.ru/jour/article/view/34

Διαθεσιμότητα: https://met.misis.ru/jour/article/view/34
https://doi.org/10.17073/1609-3577-2013-1-35-37

ИССЛЕДОВАНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СТРУКТУР В ПРОЦЕССЕ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИИ

Συγγραφείς: Медведева, Светлана, Коива, Дарья, Шемухин, Андрей, Черных, Павел

Θεματικοί όροι: РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ, РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ, РАЗМЕР ЗЕРНА, ТОЛЩИНА ПЛЕНКИ

Περιγραφή αρχείου: text/html

Διαθεσιμότητα: http://cyberleninka.ru/article/n/issledovanie-izmeneniya-parametrov-tonkoplenochnyh-struktur-v-protsesse-ionnoy-implantatsii
http://cyberleninka.ru/article_covers/15555003.png

Исследование изменения параметров тонкопленочных структур в процессе ионной имплантации

Πηγή: Вестник Балтийского федерального университета им. И. Канта. Серия: Физико-математические и технические науки.

Θεματικοί όροι: РЕНТГЕНОВСКАЯ РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ, РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ, РАЗМЕР ЗЕРНА, ТОЛЩИНА ПЛЕНКИ

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article/n/issledovanie-izmeneniya-parametrov-tonkoplenochnyh-struktur-v-protsesse-ionnoy-implantatsii
http://cyberleninka.ru/article_covers/15555003.png

Структура тонких пленок co/pd с перпендикулярной магнитной анизотропией

Additional Titles: Structure of co/pd thin films with perpendicular magnetic anisotropy

Συγγραφείς: Максименко, А.А., Maximenko, A.A.

Όροι ευρετηρίου: тонкие пленки Co/Pd, перпендикулярная магнитная анизотропия, интерфейсы многослойных тонких пленок, кристаллическая структура тонких плёнок, рентгеновская рефлектометрия, рентгеноструктурный анализ тонких пленок, рентгеноструктурный анализ тонких пленок с наклоном вектора дифракции относительно нормали к поверхности, Co/Pdthin films, perpendicular magnetic anisotropy, interfaces of multilayered thin films, crystal structure of thin films, X-ray reflectivity, thin films analysis by X-ray diffraction, X-ray diffraction of thin films with inclination of diffraction vector with respect tothe surface normal, Article

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/206016uri