-
1Conference
Συγγραφείς: Капранов, Борис Иванович, Мудров, Михаил Анатольевич
Θεματικοί όροι: комптоновское рассеяние, измерения, плотность, радиационно-защитные покрытия
Relation: Информационные технологии неразрушающего контроля : сборник научных трудов Российской школы конференции с международным участием, Томск, 27-30 октября 2015 г. — Томск, 2015.; http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15322
Διαθεσιμότητα: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15322
-
2Conference