-
1Academic Journal
Συγγραφείς: Шнейдеров, Е.Н., Боровиков, С.М., Бурак, И.А.
Θεματικοί όροι: изделия электронной техники, функциональный параметр, постепенные отказы, параметрическая надёжность, математическая модель деградации, условный закон распределения параметра, прогнозирование параметрической надёжности
Relation: http://rour.neicon.ru:80/xmlui/bitstream/rour/205139/1/nora.pdf; 621.382.019.3; https://openrepository.ru/article?id=205139
Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=205139
-
2Academic Journal
-
3Academic Journal
Συγγραφείς: Боровиков, С. М., Шнейдеров, Е. Н.
Θεματικοί όροι: доклады БГУИР, изделия электронной техники, биполярные транзисторы, физико-статистические модели, распределение Вейбулла, прогнозирование параметрической надежности, ошибки прогнозирования
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: Боровиков, С. М. Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техники = The parametric reliability prediction of electronic devices using Weibull distribution / С. М. Боровиков, Е. Н. Шнейдеров // Доклады БГУИР. – 2011. – № 7 (61). – С. 37–42.; https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2090
Διαθεσιμότητα: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2090
-
4Electronic Resource
Συγγραφείς: Шнейдеров, Е.Н., Боровиков, С.М., Бурак, И.А.
Όροι ευρετηρίου: изделия электронной техники, функциональный параметр, постепенные отказы, параметрическая надёжность, математическая модель деградации, условный закон распределения параметра, прогнозирование параметрической надёжности, Article
Σύνδεσμος:
http://hdl.handle.net/rour/205139uri