Εμφανίζονται 1 - 4 Αποτελέσματα από 4 για την αναζήτηση '"прогнозирование параметрической надёжности"', χρόνος αναζήτησης: 0,56δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
  2. 2
  3. 3
    Academic Journal

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Relation: Боровиков, С. М. Использование распределения Вейбулла для прогнозирования параметрической надежности электронной техники = The parametric reliability prediction of electronic devices using Weibull distribution / С. М. Боровиков, Е. Н. Шнейдеров // Доклады БГУИР. – 2011. – № 7 (61). – С. 37–42.; https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/2090

  4. 4