-
1Academic Journal
Συνεισφορές: Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Πηγή: Вестник Томского государственного университета. 2005. № 285 : Серия "Физика". С. 3-12
Θεματικοί όροι: рентгеноструктурный анализ, нелинейная оптика, элементная база, полупроводниковые монокристаллы, выращивание, кристаллография полупроводников, полупроводниковые материалы, синтез, научные школы, история, полупроводники сложные, полупроводниковые сенсоры, керамика токопроводящая, Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск), полупроводниковые структуры сложные, материаловедение полупроводников, Томский государственный университет, эпитаксиальные слои, кристаллохимия полупроводников, интегральная оптика, элементная база, физика диэлектриков, высокочистые вещества, труды ученых ТГУ, физика полупроводников, мышьяк, технология очистки, полупроводники алмазоподобные, физическая химия полупроводников, полупроводниковые соединения сложные, арсенид галлия, монокристаллы, GaAs-диоды
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000328902
-
2Academic Journal
Συνεισφορές: Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Πηγή: Вестник Томского государственного университета. 2005. № 285 : Серия "Физика". С. 3-12
Θεματικοί όροι: физика полупроводников, Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск), Томский государственный университет, полупроводниковые материалы, синтез, полупроводниковые монокристаллы, выращивание, арсенид галлия, монокристаллы, керамика токопроводящая, физика диэлектриков, материаловедение полупроводников, кристаллография полупроводников, кристаллохимия полупроводников, физическая химия полупроводников, рентгеноструктурный анализ, полупроводники сложные, высокочистые вещества, мышьяк, технология очистки, эпитаксиальные слои, GaAs-диоды, полупроводники алмазоподобные, полупроводниковые сенсоры, нелинейная оптика, элементная база, интегральная оптика, полупроводниковые соединения сложные, полупроводниковые структуры сложные, научные школы
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: vtls:000328902; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000328902
-
3
Συγγραφείς: Волошин, Василий Остапович, Гольман, Михаил Борисович, Коханенко, Андрей Павлович, Войцеховский, Александр Васильевич
Θεματικοί όροι: полупроводники узкозонные дефектные, радиационные дефекты полупроводников, теллурид-кадмий-ртуть, кристаллы, диффузия радиационно-стимулированная, примеси полупроводников, диффузия, дефектные структуры полупроводников, дефектообразование в кристаллах радиационное, модели энергетические, облучение нейтронами быстрыми, облучение электронами быстрыми, облучение протонами быстрыми, облучение ионами быстрыми, облучение гамма-квантами быстрыми, электрические свойства кристаллов, оптические свойства кристаллов, фотоэлектрические свойства кристаллов, рекомбинационые свойства кристаллов, структурные свойства кристаллов, термическая стабильность, приборы диагностики, радиационная стойкость, полупроводниковые соединения сложные, радиационные нарушения
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: vtls:000633219; URN:ISBN:5628013315; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000633219