Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Subject Terms: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

File Description: application/pdf

Access URL: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25696

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Subject Terms: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

File Description: application/pdf

Access URL: https://openrepository.ru/article?id=34740

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Authors: Урбанович, Павел Павлович

Subject Terms: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

File Description: application/pdf

Relation: https://openrepository.ru/article?id=34740

Availability: https://openrepository.ru/article?id=34740

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Authors: Урбанович, Павел Павлович

Index Terms: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга, Article

URL: http://hdl.handle.net/rour/34740uri