Showing 1 - 20 results of 151 for search '"плотность дислокаций"', query time: 0.73s Refine Results
  1. 1
  2. 2
  3. 3
  4. 4
  5. 5
  6. 6
  7. 7
  8. 8
  9. 9
    Academic Journal

    Source: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; Том 25, № 4 (2022); 323-336 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; Том 25, № 4 (2022); 323-336 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2022-4

    File Description: application/pdf

    Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/498/396; https://met.misis.ru/jour/article/downloadSuppFile/498/160; Горелик С.С., Дашевский М.Я. Материаловедение полупроводников и диэлектриков. М.: Металлургия; 1988. 575 с.; Мильвидский М.Г., Освенский В.Б. Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников. М.: Металлургия; 1984. 256 с.; Бережанский И.Р., Адарчин С.А., Косушкин В.Г. Влияние дислокаций на параметрические свойства полупроводниковых приборов. Электромагнитные волны и электронные системы. 2016; 21(10): 4–8.; Бардсли У. Влияние дислокаций на электрические свойства полупроводников. Успехи физических наук. 1961; 73(1): 121–167.; Травление полупроводников; пер. с англ.: сб. ст. М.: Мир; 1965. 382 с.; Левченко Д.С., Теплова Т.Б., Югова Т.Г. Исследование дислокационной структуры монокристаллов арсенида галлия, используемых для создания приборов сверхскоростной микроэлектроники. В сб.: Материалы II Междунар. науч.-практ. конф. «Экономика и практический менеджмент в России и за рубежом». Коломна, 30 апреля 2015 г. Коломна: Коломенский ин-т (фил.) ФГБОУ ВПО «Московский гос. машиностроительный ун-т (МАМИ)»; 2015. С. 135–137.; Парфентьева И.Б., Пугачев Б.В., Павлов В.Ф., Козлова Ю.П., Князев С.Н., Югова Т.Г. Особенности формирования дислокационной структуры в монокристаллах арсенида галлия, полученных методом Чохральского. Кристаллография. 2017; 62(2): 259–263. https://doi.org/10.7868/S0023476117020205; Случинская И.А. Основы материаловедения и технологии полупроводников. М.: Мир; 2002. 376 с.; Фанштейн С.М. Обработка поверхности полупроводниковых приборов. 2-е изд. перераб и доп. М.; Ленинград: Энергия; 1966. 256 с.; Марков А.В., Мильвидский М.Г., Освенский В.Б. О роли дислокаций в формировании свойств монокристаллов полуизолирующего GaAs. Физика и техника полупроводников. 1986; 20(4): 634–640.; Мильвидский М.Г., Освенский В.Б. Структурные дефекты в эпитаксиальных слоях полупроводников. М.: Металлургия; 1985. 159 с.; Авров Д.Д., Лебедев А.О., Таиров Ю.М. Основные дефекты в слитках и эпитаксиальных слоях карбида кремния I. Дислокационная структура и морфологические дефекты. Обзор. Известия высших учебных заведений. Электроника. 2015; 20(3): 225–238.; Косушкин В.Г., Кожитов Л.В., Кожитов С.Л. Состояние и проблемы выращивания монокристаллов полупроводников высокой однородности. Известия Юго-Западного государственного университета. Серия: Техника и технологии. 2013; (1): 10–22.; Кудря А.В., Соколовская Э.А., Скородумов С.В., Траченко В.А., Папина К.Б. Возможности цифровой световой микроскопии для объективной аттестации качества металлопродукции. Металловедение и термическая обработка металлов. 2018; (4(754)): 15–23.; Соколовская Э.А., Кудря А.В., Пережогин В.Ю., Танг В.Ф., Кодиров Д.Ф.У., Сергеев М.И. Возможности цифровизации измерений в металловедении для внесения в оценку структур и разрушения количественной меры. Металлург. 2022; (7): 48–57. https://doi.org/10.52351/00260827_2022_07_48; Быков Ю.А., Карпухин С.Д. Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный анализ. Аппаратура, принцип работы, применение; под ред. Ю.А. Быкова. М.: МГТУ им. Н.Э. Баумана; 2002. 30 с.; Говорков А.В., Поляков А.Я., Югова Т.Г., Смирнов Н.Б., Петров Е.А., Меженный М.В., Марков А.В., Ли И.-Х., Пиртон С.Дж. Идентификация дислокаций и их влияние на процессы рекомбинации носителей тока в нитриде галлия. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007; (9): 18–24.; Кравчук К.С., Меженный М.В., Югова Т.Г. Определение типов дислокаций и их плотности в эпитаксиальных слоях GaN различной толщины с помощью методов оптической и атомно-силовой микроскопии. Кристаллография. 2012; 57(2): 325–330.; Суслов А.А., Чижик С.А. Сканирующие зондовые микроскопы (обзор). Материалы, технологии, инструменты. 1997; 2(3): 78–89. http://microtm.com/download/mti-spmreview.pdf; Комаровский Н.Ю., Ющук В.В., Биндюг Д.В., Богембаев Н.Р. Исследование градиента распределения дефектов в монокристаллических пластинах кремния и арсенида галлия с помощью рентгеновской топографии. Международный научно-исследовательский журнал. 2021; (4-1(106)): 26–31. https://doi.org/10.23670/IRJ.2021.106.4.004; Орлова Г.Ю., Калашникова И.И. Исследование морфологии и фазового состава высококонцентрированных и смешанных кристаллов для активных сред лазеров. В кн.: Труды XLVII науч. конф. Москва, 26–27 ноября 2004 г. Ч. V. М.: МФТИ; 2004. С. 65.; Князев С.Н., Комаровский Н.Ю., Чупраков В.А., Ющук В.В. Влияние технологических параметров на структурное совершенство монокристаллического арсенида галлия. В сб.: Междунар. науч. конф. «Современные материалы и передовые производственные технологии» (СМППТ-2021). Санкт-Петербург, 21–23 сентября 2021 г. СПб.: ФГОУ ВО «Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого»; 2021. С. 218–220.; Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электронографический анализ. 4-е изд. М.: Металлургия; 2002. 357 с.; Самойлов А.М., Беленко С.В., Сирадзе Б.А., Тореев А.С., Донцов А.И., Филонова И.В. Плотность дислокаций в пленках PbTe, выращенных на подложках Si (100) и BaF2 (100) модифицированным методом «горячей стенки». Конденсированные среды и межфазные границы. 2013; 15(3): 322–331.; Tanner B.K., Phil M.A. X-ray diffraction topography. NY, USA: Pergamon Press; 1976. 174 p.; Уманский Я.С. Рентгенография металлов. М.: Металлургия; 1967. 236 с.; Authier A. Contrast of dislocation images in X-ray transmission topography. Advances in X-ray Analysis. 1967; 10: 9–31. https://doi.org/10.1154/S0376030800004250; Суворов Э.В. Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов. Черноголовка: ИФТТ РАН; 2021. 209 с.; Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении; под ред. С. Амелинкса, Р. Геверса, Дж. Ван Ландё; пер. с англ. М.: Металлургия; 1984. 502 с.; Baruchel J., Hartwig J.J., Rejmankova P. Present state and perspectives of synchrotron radiation diffraction imaging. Journal of Synchrotron Radiation. 2002; 9(Pt 3): 107–14. https://doi.org/10.1107/S0909049502004041; Williams D.B., Carter C.B. The transmission electron microscope. In: Transmission electron microscopy. Springer; 1996. P. 3–17.; Петлицкий А.Н., Жигулин Д.В., Ланин В.Л. Экспресс-контроль элементов интегральных схем с использованием растровой электронной микроскопии и режима наведенного тока. Производство электроники. 2020; (1): 98–102.; Вергелес П.С., Якимов Е.Б. Исследование ширины изображения дислокаций в режиме наведенного тока в пленках GaN и структурах на их основе. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2009; (1): 71–73.; Бельник С.А., Вергелес П.С., Шмидт Н.М., Якимов Е.Б. Дефекты со светлым контрастом в режиме наведенного тока в светоизлучающих структурах на основе GaN. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2007; 7: 34–37.; Шапиро Л., Стокман Дж. Компьютерное зрение; пер. с англ. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний; 2013. 752 с.; Самойлов А.Н., Шевченко И.В. Разработка методов выделения бинаризованных фрагментов ямок травления пластины полупроводника. Технологический аудит и резервы производства. 2016; 3(1(29)): 60–68. https://doi.org/10.15587/2312-8372.2016.71988; Самойлов А.Н., Шевченко И.В. Подходы к идентификации фрагментов контура дислокации на пластине монокристалла полупроводника. Автоматизацiя та комп'ютерно-iнтегрованi технологiї. 2019; 1: 115–120. https://doi.org/10.15589/znp2019.1(475).16; https://scholar.archive.org/work/ubpjpgl4orekvhkur4qq6mvoai/access/wayback/http://znp.nuos.mk.ua/archives/2019/1/18.pdf; https://met.misis.ru/jour/article/view/498

  10. 10
    Academic Journal

    Source: Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY); № 4 (2022); 123-127 ; Литье и металлургия; № 4 (2022); 123-127 ; 2414-0406 ; 1683-6065 ; 10.21122/1683-6065-2022-4

    File Description: application/pdf

    Relation: https://lim.bntu.by/jour/article/view/3521/3426; Structural heredity in the U‑6Nb Alloy and Conditions for its Elimination / V. V. Sagaradze, Yu. N. Zuev, S. V. Bondarchuk et. al. // The Phusics of Materials and Metallography. 2013. Vol. 114. N. 4. P. 299–307.; Structural heredity in low‑carbon martensitic steels / S. S. Yugai, L. M. Kleiner, A.A. Shatsov, N. N. Mitrokhovich // Metall Sciens and teat treatment. 2004. Vol. 46. N. 11, 12. P. 539–542.; Бердиев Д. М., Юсупов А. А. Повышение износостойкости зубьев зубчатых колес циклической закалкой с индукционным нагреванием // Вестник машиностроения. 2020. № 3. С. 50–53.; Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. М.: Наука, 2007. 224 с.; Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно‑оптический анализ. М.: МИСИС, 1994. 328 с.; Гаркунов Д. Н. Триботехника. М.: МСХА, 2005. 356 с.; Бердиев Д. М., Юсупов А. А. Повышение износостойкости стальных изделий методом нестандартных режимов термической обработки // Литье и металлургия. 2021. № 2. С. 100–104.; Бердиев Д. М., Умарова М. А., Тошматов Р. К. Особенности фазовых и структурных превращений конструкционных сталей при нетрадиционных режимах термической обработки // Вестник машиностроения. 2020. № 10. С. 63–65.; https://lim.bntu.by/jour/article/view/3521

  11. 11
  12. 12
  13. 13
  14. 14
    Academic Journal

    Source: Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY); № 3 (2022); 91-95 ; Литье и металлургия; № 3 (2022); 91-95 ; 2414-0406 ; 1683-6065 ; 10.21122/1683-6065-2022-3

    File Description: application/pdf

    Relation: https://lim.bntu.by/jour/article/view/3491/3405; Околович Г. А. Штамповые стали для холодного деформирования металлов. Барнаул: АлтГТУ, 2010. 202 с.; Брыков М. Н., Ефременко В. Г., Ефременко А. В. Износостойкость сталей и чугунов при абразивном изнашивании. Херсон: Гринь Д. С., 2014. 364 с.; Гольдштейн М. И., Грачев С. В. Векелер Ю. Г. Специальные стали. М.: МИСиС, 1999. 408 с.; Mukhamedov A.A. The Influence of the Thermal History on the structure and Properties of Steel // The physics of Metals and Metallography. 1992. Vol. 74. No. 5. Р. 482–487.; Структурная наследственность в низкоуглеродистых мартенситных сталях / С. С. Югай, Л. М. Клейнер, А. А. Шоцев, И. Н. Митрохович // Металловедение и термическая обработка металлов. 2004. № 12. С. 24–29.; Berdiev D. M., Umarova M.A., Toshmatov R. K. Phase and structural transformations of structural steels in nontraditional heat treatment // Russian Engineering Research. 2021. Vol. 41. No. 1. Р. 46–48.; Sagaradze V. V., Zuev Yu. N., Bondarchuk S. V. Structural heredity in the U‑6 Nb Alloy and Conditions for its Elimination // The Phusics of Materials and Metallography. 2013. Vol. 114. No. 4. P. 299–307.; Dyuchenko S. S. Heredity in phase transformation: mechanism of the phenomenon and effect on the properties // Metall Science and heat treatment. 2000. Vol. 42. No. 3–4. P. 122–126.; Бердиев Д. М., Юсупов А. А. Нестандартные режимы термической обработки и их влияние на износостойкость стальных изделий // Вест. машиностроения. 2021. № 5. С. 61–63.; Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. М.: Наука, 2007. 224 с.; Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно‑оптический анализ. М.: МИСиС, 1994. 328 с.; Золоторевский В. С. Механические свойства металлов. М.: МИСиС, 1998. 400 с.; Бердиев Д. М., Юсупов А. А. Повышение износостойкости стальных изделий методом нестандартных режимов термической обработки // Литье и металлургия. 2021. № 2. С. 100–104.; https://lim.bntu.by/jour/article/view/3491

  15. 15
  16. 16
  17. 17
    Academic Journal

    Contributors: The author expresses his gratitude to A. L. Gursky for useful discussions and preparation of the material for publication., Автор выражает благодарность А. Л. Гурскому за полезные дискуссии и подготовку материала к печати.

    Source: Proceedings of the National Academy of Sciences of Belarus. Physical-technical series; Том 66, № 3 (2021); 270-279 ; Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук; Том 66, № 3 (2021); 270-279 ; 2524-244X ; 1561-8358 ; 10.29235/1561-8358-2021-66-3

    File Description: application/pdf

    Relation: https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/678/554; Хилл, Р. Математическая теория пластичности / Р. Хилл. – М.: Гостехиздат, 1956. – 408 с.; Качанов, Л. М. Основы теории пластичности/ Л. М. Качанов. – М.: Гостехиздат, 1956. – 407 с.; Ван-Бюрен, Х. Г. Дефекты в кристаллах / Х. Г. Ван-Бюрен. – М.: Иностр. лит., 1962. – 610 c.; Урусов, В. С. Геохимия твердого тела / В. С. Урусов, В. Л. Таусон, В. В. Акимов. – М.: ГЕОС, 1997. – 304 с.; Козлова, О. Г. Рост и морфология кристаллов / О. Г. Козлова. – М.: Моск. ун-т, 1972. – 304 с.; Северденко, В. П. Структура в объеме и на поверхности прокатанных материалов / В. П. Северденко, Л. И. Гурский. – Минск: Наука и техника, 1972. – 308 с.; Новиков, И. И. Кристаллография и дефекты кристаллической решетки / И. И. Новиков, К. М. Розин. – М.: Металлургия, 1990. – 336 с.; Хирт, Дж. Теория дислокаций / Дж. Хирт, И. Лоте. – М.: Атомиздат, 1972. – 600 с.; Фридель, Ж. Дислокации / Ж. Фридель. – М.: Мир, 1967. – 643 с.; Финкель, В. М. Физика разрушения / В. М. Финкель. – М.: Металлургия, 1970. – 376 с.; Владимиров, В. И. Физическая природа разрушения металлов / В. И. Владимиров. – М.: Металлургия, 1984. – 280 с.; Материаловедение. Технология конструкционных материалов: учеб. пособие для студентов вузов / А. В. Шишкин [и др.]. – М.: Омега Л, 2006. – 752 с.; Северденко, В. П. Структура тонких металлических пленок / В. П. Северденко, Э. И. Точицкий. – Минск: Наука и техника, 1968. – 180 с.; Северденко, В. П. Прокатка с малыми обжатиями / В. П. Северденко, Л. И. Гурский. – Минск: Наука и техника, 1968. – 188 с.; Распределение плотности дислокаций при пластической деформации металлов / В. П. Северденко [и др.] // Металловедение и термическая обработка: сб. – Минск: Наука и техника, 1965. – С. 49–57.; Штремель, М. А. Возможности электронномикроскопического измерения плотности дислокаций / М. А. Штремель, Б. Г. Беляков // Физика металлов и металловедение. – 1968. – Т. 25, № 1. – С. 140–151.; Изменение дислокационной структуры никеля в процессе пластической деформации / В. П. Северденко [и др.] // Пластичность и обработка металлов давлением: сб. – Минск: Наука и техника, 1968. – С. 5–12.; Гурский, Л. И. Энергетическое состояние дислокаций / Л. И. Гурский // Пластическая деформация и обработка металлов давлением: сб. – Минск: Наука и техника, 1969. – С. 284–288.; Гурский, Л. И. Процессы, связанные с изменением энергии тела, имеющего дислокации / Л. И. Гурский // Пластическая деформация и обработка металлов давлением: сб. – Минск: Наука и техника, 1969. – С. 289–296.; https://vestift.belnauka.by/jour/article/view/678

  18. 18
    Academic Journal

    Source: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; Том 24, № 3 (2021); 190-198 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; Том 24, № 3 (2021); 190-198 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2021-3

    File Description: application/pdf

    Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/444/362; Weiss E. Thirty years of HgCdTe technology in Israel. SPIE Proc.: Infrared Technology and Applications XXXV, 2009; 7298: 72982W. https://doi.org/10.1117/12.818237; Gershon G., Albo A., Eylon M., Cohen O., Calahorra Z., Brumer M., Nitzani M., Avnon E., Aghion I., Kogan I., Ilan E., Tuito A., Ben Ezra M., Shkedy L. Large format InSb infrared detector with 10 μm pixels. Proc. OPTRO. Paris; 2014.; Бурлаков И.Д., Болтарь К.О., Мирофянченко А.Е., Власов П.В., Лопухин А.А., Пряникова Е.В., Соловьев В.А., Семенов А.Н., Мельцер Б.Я., Комиссарова Т. ., Львова Т.В., Иванов С.В. Исследование структур InSb, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Успехи прикладной физики. 2015; 3(6): 559—565.; Суханов М.А., Бакаров А.К, Протасов Д.Ю., Журавлёв К.С. AlInSb/InSb-гетероструктуры для ИК-фотоприемников, выращенные методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Письма в Журнал технической физики. 2020; 46(4): 3—6. https://doi.org/10.21883/PJTF.2020.04.49040.18055; Алфимова Д.Л., Лунинa М.Л., Лунинa Л.С., Пащенко О.С., Пащенко А.С., Яценко А.Н. Влияние висмута на структурное совершенство упруго-напряженных эпитаксиальных слоев AlGaInSbBi, выращенных на подложках InSb. Поверхность. рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2020; 8: 20—25. https://doi.org/10.31857/S1028096020080038; Наумов А. В., Попов В. К., Современные охлаждаемые фотоприемные устройства ИК-диапазона. Динамика рынка до и после пандемии. Системы безопасности. 2020; 3: 68—70. URL: https://astrohn.ru/wp-content/uploads/2020/10/68-70.pdf; Пономаренко В.П., Филачёв А.М. Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946—2006). М.: Физматкнига; 2006. 334 с.; Brouk J., Alameh K., Nemirovsky Y. Design and Characterization of CMOS/SOI Image Sensors. IEEE Transaction on Electron Devices. 2007; 54(3): 468—475. https://doi.org/10.1109/TED.2006.890585; Давыгора А.П., Сыров Ю.В. InSbS3 — новый представитель трубчатых кристаллов. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2018; (11): 109—112. https://doi.org/10.1134/S0207352818110094; Mikhailova M.P., Andreev I.A. High-speed avalanche photodiode for the 2-5 µm spectral range. In: Krier A. (Eds) Mid-infrared Semiconductor Optoelectronics. Springer Series in Optical Sciences, V. 118 London: Springer; 2006: 547—592. https://doi.org/10.1007/1-84628-209-8_17; Choi K.K., Monroy C., Swaminathan V., Tamir T., Leung M., Devitt J., Forrai D., Endres D. Optimization of corrugated-QWIPs for large format, high-quantum-efficiency, and multicolor FPAs. SPIE Proc.:Infrared Technology and Applications XXXII. SPIE. 2006; 6206: 62060B. https://doi.org/10.1117/12.663960; Furlong M.J., Dallas G., Meshew G., Flint J. P., Small D., Martinez B., Mowbray A. Growth and characterization of 6” InSb substrates for use in large-area infrared-imaging applications. SPIE Proc.:Quantum Sensing and Nanophotonic Devices XI. 2014; 8993: 89931J. https://doi.org/10.1117/12.2042393; Нашельский А.Я. Технология спецматериалов электронной техники: учеб пособие для вузов. М.: Металлургия; 1993. 368 с.; Wafer Technology Ltd. URL: http://www.wafertech.co.uk/; MTI Corporation. URL: http://www.mtixtl.com/; Xiamen Powerway Advanced Material Co, Ltd. URL: https://www.powerwaywafer.com/compound-semiconductor.html; Патент 2482228 C1 (RU). Способ получения крупногабаритных монокристаллов антимонида индия. В.С. Ежлов, А.Г. Мильвидская, Е.В. Молодцова, Г.П. Колчина, М.В. Меженный, В.Я. Резник, 2012. https://patents.s3.yandex.net/RU2482228C1_20130520.pdf; Мильвидский М.Г., Освенский В.Б. Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников. М.: Металлургия; 1984. 256 с.; Allen L.P., Flint P.J., Meschew G., Dallas G., Bakken D., Brown G.J., Khoshakhlagh A., Hill C.J. 100 mm diameter GaSb substrates with extended IR wavelength for advanced space-based applications. SPIE Proc.: Infrared Technology and Applications XXXVII, 2011; 8012: 801215. https://doi.org/10.1117/12.882937; Ежлов В.С., Мильвидская А.Г., Молодцова Е.В. Исследование свойств крупногабаритных монокристаллов антимонида индия, выращенных методом Чохральского в кристаллографическом направлении [100]. Известия вузов. Материалы электронной техники. 2012; (2): 13—17.; https://met.misis.ru/jour/article/view/444

  19. 19
    Academic Journal

    Source: Litiyo i Metallurgiya (FOUNDRY PRODUCTION AND METALLURGY); № 4 (2021); 59-65 ; Литье и металлургия; № 4 (2021); 59-65 ; 2414-0406 ; 1683-6065 ; 10.21122/1683-6065-2021-4

    File Description: application/pdf

    Relation: https://lim.bntu.by/jour/article/view/3392/3301; Ткачев В. Н. Износ и повышение долговечности деталей сельскохозяйственных машин. М.: Машиностроение, 1971. 264 с.; Беренштейн Д. Б. Абразивное изнашивание лемешного лезвия и работоспособность плуга // Тракторы и сельскохозяйственные машина. 2002. № 6. С. 39–42.; Dyuchenko S. S. Heredity in phase transformation: mechanism of the phenomenon and effect on the properties // Metall Science and heat treatment. 2000. Vol. 42. № 3, 4. P. 122–126.; Шишков М. М. Марочник сталей и сплавов: справ. Изд. 3‑е допол. Донецк: Юго‑Восток, 2002. 456 с.; Гаркунов Д. Н. Триботехника. М.: МСХА, 2005. 356 с.; Тененбаум М. М. Закономерности абразивного изнашивания деталей рабочих органов сельскохозяйственных машин // Трения и износ. 1980. Т. 1. № 2. С. 357–364.; Металлография сплавов железа: справочник / Пер. с нем. под ред. М. Л. Бернштейна. М.: Металлургия, 1985. 248 с.; Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. М.: Наука, 2007. 224 с.; Горелик С. С., Скаков Ю. А., Растворгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно‑оптический анализ. М.: МИСиС, 1994. 328 с.; Бердиев Д. М. Умарова М. А., Тошматов Р. К. Особенности фазовых и структурных превращений конструкционных сталей при нетрадиционных режимах термической обработки // Вест. машиностроения. 2020. № 10. С. 63–65.; Савицкий И. А., Скаков Ю. А. Влияние деформации на ширину рентгеновских линий и перераспределение углерода // Изв. вузов. Черная металлургия. 1972. № 9. С. 123–126.; Berdiev D. M., Yusupov A.A. Improving wear resistance of steel products to unconventional heat treatment methods // International journal of scientific & technology research. 2020. Vol. 9. Is. 2. P. 2504–2509.; Бокштейн С. З. Структура и механические свойства легированной стали. М.: Металлургия, 1954.; https://lim.bntu.by/jour/article/view/3392

  20. 20