-
1Academic Journal
Συνεισφορές: ELAKPI
Θεματικοί όροι: вихрострумовий контроль, дефект, вихрострумовий перетворювач подвійного диференціювання, автоматизована система
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/59313
-
2Academic Journal
Συγγραφείς: Uchanin, V. M., Ivashchenko, K. A.
Πηγή: METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL; No. 1(46) (2021): METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL; 5-14 ; Методи та прилади контролю якості; № 1(46) (2021): METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL; 5-14 ; Методи та прилади контролю якості; № 1(46) (2021): МЕТОДИ ТА ПРИЛАДИ КОНТРОЛЮ ЯКОСТІ; 5-14 ; 2415-3575 ; 1993-9981 ; 10.31471/1993-9981-2021-1(46)
Θεματικοί όροι: eddy current method, flaw detector, double differential probe, crack, sensitivity, noise, inspection productivity, вихрострумовий метод, дефектоскоп, перетворювач подвійного диференціювання, тріщина, чутливість, завади, продуктивність контролю
Περιγραφή αρχείου: application/pdf
Relation: https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/537/542; https://mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/537
-
3Academic Journal
Συγγραφείς: Учанін, В. М.
Θεματικοί όροι: автоматизована система, вихрострумовий контроль, вихрострумовий перетворювач подвійного диференціювання, дефект, 620.179.14
Περιγραφή αρχείου: 368 c.; С. 228-231; application/pdf
Relation: XХII Міжнародна науково-технічна конференція "Приладобудування: стан і перспективи", 16–17 травня 2023 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції; Учанін, В. М. Використання накладних перетворювачів подвійного диференціювання для створення автоматизованих систем вихрострумової дефектоскопії / Учанін В. М. // XХIІ Міжнародна науково-технічна конференція “Приладобудування: стан і перспективи”, 16 – 17 травня 2023 р., Київ, Україна : збірник матеріалів конференції. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023. – С. 228-231. – Бібліогр.: 2 назви.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/59313
Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/59313