-
1Academic Journal
Συγγραφείς: M V Gavrikov, N D Zhukov
Θεματικοί όροι: semiconductor structure, tunnel emission, nanostructure, nanoparticle, nanocapacitor recharge, наноструктура, сканирующая зондовая микроскопия, Материаловедение, перезарядка наноконденсатора, quantum dot, scanning probe microscopy, вольтамперная характеристика, квантовая точка, Materials science, наночастица, tunneling, полупроводниковая структура, semiconductor parametry, туннелирование, nanomaterial, полупроводниковая параметрия, current-voltage characteristic, наноматериал, туннельная эмиссия
Σύνδεσμος πρόσβασης: https://research-journal.org/wp-content/uploads/2021/08/8-110-1.pdf#page=19
https://research-journal.org/en/physicsandmath/stm-parametriya-poluprovodnikovyx-kolloidnyx-kvantovyx-tochek/