КОНЦЕПЦИЯ КОГНИТИВНОЙ АДАПТАЦИИ ЭРГАСИСТЕМЫ В ЗАДАЧЕ ОПТИМИЗАЦИИ УПРАВЛЕНЧЕСКИХ РЕШЕНИЙ ПО ФИЗИЧЕСКОЙ ЗАЩИТЕ ОБЪЕКТОВ ИНФРАСТРУКТУРЫ

Θεματικοί όροι: регулятор, information optimization criterion, conceptual model, coverage entropy, концептуальная модель, когнитивная эргасистема, information entropy, энтропия покрытия, программно-математическое обеспечение, когнитивная среда, regulator, cognitive ergasystem, software and mathematical support, информационный критерий оптимизации, параметрический контроль, parametric control, человек-оператор, информационная энтропия, cognitive environment, human operator

ОБЗОР ТЕСТОВЫХ СТРУКТУР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ ПРИ ИЗГОТОВЛЕНИИ СВЧ МОНОЛИТНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Συγγραφείς: Сальников, Андрей, Ющенко, Алексей

Θεματικοί όροι: микроэлектроника, СВЧ, монолитные интегральные схемы, электрофизические параметры, тестовые структуры, Измерение, параметрический контроль, контроль технологии

Περιγραφή αρχείου: text/html

Διαθεσιμότητα: http://cyberleninka.ru/article/n/obzor-testovyh-struktur-dlya-izmereniya-elektrofizicheskih-parametrov-materialov-pri-izgotovlenii-svch-monolitnyh-integralnyh-shem
http://cyberleninka.ru/article_covers/8069925.png

Обзор тестовых структур для измерения электрофизических параметров материалов при изготовлении СВЧ монолитных интегральных схем

Πηγή: Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники.

Θεματικοί όροι: микроэлектроника, СВЧ, монолитные интегральные схемы, электрофизические параметры, тестовые структуры, Измерение, параметрический контроль, контроль технологии

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article_covers/8069925.png
http://cyberleninka.ru/article/n/obzor-testovyh-struktur-dlya-izmereniya-elektrofizicheskih-parametrov-materialov-pri-izgotovlenii-svch-monolitnyh-integralnyh-shem