Системы полупроводниковой памяти с интеграцией на пластине на основе трехмерных кодов

Θεματικοί όροι: основа трехмерных кодов, двухмерные итеративные коды, оперативные запоминающие устройства, система полупроводниковой памяти, трехмерные итеративные коды, кристаллы

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/64719

Оценка ресурсов ОЗУ при контроле технических объектов

Πηγή: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2020. № 52. С. 104-113

Θεματικοί όροι: постоянная времени дифференцирования, устройство контроля, оперативные запоминающие устройства, дифференцирующие цепи, генераторы, управляемые напряжением, спектры

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000737233

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Θεματικοί όροι: оперативные запоминающие устройства, криптографическое преобразование информации

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/26745

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Θεματικοί όροι: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25696

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Θεματικοί όροι: динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, публикации ученых

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=217333

Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ

Θεματικοί όροι: встроенные ОЗУ, ОЗУ, оперативные запоминающие устройства, материалы конференций, VHDL, тестирование цифровых устройств, неисправности интерфейсных линий

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=214874

Об эффективности многоуровневой памяти вычислительной системы

Συνεισφορές: Томский государственный университет Факультет информатики Кафедра прикладной информатики

Πηγή: Обозрение прикладной и промышленной математики. 2008. Т. 15, вып. 1. С. 117-118

Θεματικοί όροι: оперативные запоминающие устройства, вычислительные системы, память

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000426067

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Θεματικοί όροι: оперативные запоминающие устройства, криптографическое преобразование информации

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=37428

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Θεματικοί όροι: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://openrepository.ru/article?id=34740

Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ

Συγγραφείς: Степанов, А. В., Иванюк, А. А.

Θεματικοί όροι: материалы конференций, оперативные запоминающие устройства, неисправности интерфейсных линий, VHDL, тестирование цифровых устройств, встроенные ОЗУ, ОЗУ

Relation: https://openrepository.ru/article?id=214874

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=214874

Об эффективности многоуровневой памяти вычислительной системы

Συγγραφείς: Биматов, Дмитрий Владимирович, Сущенко, Сергей Петрович

Συνεισφορές: Томский государственный университет Факультет информатики Кафедра прикладной информатики

Πηγή: Обозрение прикладной и промышленной математики. 2008. Т. 15, вып. 1. С. 117-118

Θεματικοί όροι: вычислительные системы, память, оперативные запоминающие устройства

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: vtls:000426067; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000426067

Διαθεσιμότητα: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000426067

Системы полупроводниковой памяти с интеграцией на пластине на основе трехмерных кодов

Συγγραφείς: Романенко, Дмитрий Михайлович

Θεματικοί όροι: система полупроводниковой памяти, двухмерные итеративные коды, трехмерные итеративные коды, основа трехмерных кодов, оперативные запоминающие устройства, кристаллы

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://elib.belstu.by/handle/123456789/64719; 519.72

Διαθεσιμότητα: https://elib.belstu.by/handle/123456789/64719

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Συγγραφείς: Романенко, Дмитрий Михайлович, Галабурда, А. И., Урбанович, Павел Павлович

Θεματικοί όροι: криптографическое преобразование информации, оперативные запоминающие устройства

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://openrepository.ru/article?id=37428

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=37428

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем

Συγγραφείς: Леванцевич, В. А.

Θεματικοί όροι: материалы конференций, оперативные запоминающие устройства, тест March С

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: Леванцевич, В. А. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ встраиваемых систем / В. А. Леванцевич // Информационные технологии и системы 2019 (ИТС 2019) = Information Teсhnologies and Systems 2019 (ITS 2019) : материалы международной научной конференции, Минск, 30 октября 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2019. – С. 138–139.; https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37286

Διαθεσιμότητα: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37286

Надежность кристаллов динамических ОЗУ при коррекции сбоев в процессе регенерации информации

Συγγραφείς: Урбанович, Павел Павлович

Θεματικοί όροι: полупроводниковые оперативные запоминающие устройства, код Хемминга

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://openrepository.ru/article?id=34740

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=34740

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Συγγραφείς: Ярмолик, В. Н., Мрозек, И., Леванцевич, В. А.

Θεματικοί όροι: публикации ученых, динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест

Relation: Ярмолик, В. Н. Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ / В. Н. Ярмолик, И. Мрозек, В. А. Леванцевич // Информатика. – 2017. – №2(54). – С. 58 – 69.; https://openrepository.ru/article?id=217333

Διαθεσιμότητα: https://openrepository.ru/article?id=217333

Цифровая схемотехника

Συνεισφορές: НТУУ «КПИ», Факультет електронiки, Макаренко, Владимир Васильевич, Гордиенко, Елена Яковлевна

Θεματικοί όροι: биполярные транзисторы, полевые транзисторы, МДП-транзисторы, логические элементы, мультивибраторы, триггеры, счетчики, регистры, оперативные запоминающие устройства

Περιγραφή αρχείου: application/msword

Relation: Цифровая схемотехника [Электронный ресурс] : методические указания к лабораторным работам для иностранных студентов направлений подготовки 6.050803 «Акустотехника», 6.050903 «Телекоммуникации» / НТУУ «КПИ»; сост. В. В Макаренко, Е. Я. Гордиенко. − Электронные текстовые данные (1 файл: 18,3 Мбайт). – Киев : НТУУ «КПИ», 2011. - Название с экрана.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/1042

Διαθεσιμότητα: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/1042

Псевдоисчерпывающее тестирование ОЗУ

Συγγραφείς: Ярмолик, В. Н., Мрозек, И., Леванцевич, В. А.

Όροι ευρετηρίου: публикации ученых, динамические оперативные запоминающие устройства, маршевый тест, псевдоисчерпывающий тест, Статья

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/217333uri

Методика обнаружения неисправностей интерфейсных линий встроенных ОЗУ

Συγγραφείς: Степанов, А. В., Иванюк, А. А.

Όροι ευρετηρίου: материалы конференций, оперативные запоминающие устройства, неисправности интерфейсных линий, VHDL, тестирование цифровых устройств, встроенные ОЗУ, ОЗУ, Article

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/214874uri

Моделирование надежности устройств хранения и криптографического преобразования информации

Συγγραφείς: Романенко, Дмитрий Михайлович, Галабурда, А. И., Урбанович, Павел Павлович

Όροι ευρετηρίου: криптографическое преобразование информации, оперативные запоминающие устройства, Article

Σύνδεσμος: http://hdl.handle.net/rour/37428uri