Двухпараметрический метод определения коэффициента интенсивности напряжений KI трещиноподобных дефектов методом голографической интерферометрии

Συγγραφείς: Dilman, V.L., Utkin, P.B.

Θεματικοί όροι: method of holographic interferometry, коэффициенты интенсивности напряжений, метод голографической интерферометрии, fracture mechanics, УДК 620.171.5, механика разрушения, напряженное состояние пластины с наклонным эллиптическим вырезом, stress intensity factors, УДК 539.421.2, stress state of a plate with an inclined elliptical cutout

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://dspace.susu.ru/xmlui/handle/00001.74/46684