Mathematical modeling and polarimetry of the thermal stress state in semitransparent solid taking into account the influence of thermal radiation ; Математичне моделювання і поляриметрія термонапруженого стану в частково прозорому тілі з урахуванням впливу теплового випромінювання

Authors: Hachkevych, O. R., Matyash, I. Ye., Minaylova, I. A., Mishchuk, O. M., Serdega, B. K., Terlets'kyi, R. F., Brukhal', M. B.

Source: Matematychni Metody Ta Fizyko-Mekhanichni Polya; Том 63, № 4; 81-95 ; Математичні методи та фізико-механічні поля; Том 63, № 4; 81-95

Subject Terms: semitransparent solids, thermal radiation, heat transfer model, modulation polarimetry in two directions, quartz sample, temperature, stresses, UDC 535.51:535.55:539.3, частково прозорі тверді тіла, теплове випромінювання, модель теплопереносу, модуляційна поляриметрія у двох напрямках, зразок із кварцу, температура, напруження, УДК 535.51:535.55:539.3

File Description: application/pdf

Relation: http://journals.iapmm.lviv.ua/ojs/index.php/MMPMF/article/view/mmpmf2020.63.4.81-95/3528

Availability: http://journals.iapmm.lviv.ua/ojs/index.php/MMPMF/article/view/mmpmf2020.63.4.81-95
https://doi.org/10.15407/mmpmf2020.63.4.81-95

Detection of stresses induced by heat flux in a solid by using a photoelastic microscope

Authors: Matyash, I. E., Minaylova, I. A., Mischuk, O. N., Oliinyk, Ostap Olegovych, Serdega, B. K., Tsyganok, B. A.

Source: Electronics and Communications; Том 19, № 2 (2014); 9-22
Электроника и Связь; Том 19, № 2 (2014); 9-22
Електроніка та Зв'язок; Том 19, № 2 (2014); 9-22

Subject Terms: модуляционная поляриметрия, двулучепреломление, тепловой поток, термоупругость, фотоупругий микроскоп, 0103 physical sciences, модуляційна поляриметрія, двопроменезаломлення, тепловий потік, термопружність, фотопружний мікроскоп, modulation polarimetry, birefringence, heat flow, thermoelastisity, photoelastic microscope, 01 natural sciences, 0104 chemical sciences

File Description: application/pdf

Access URL: http://elc.kpi.ua/old/article/download/142127/149019
http://ui.adsabs.harvard.edu/abs/2014E&C....19b...9M/abstract
http://elc.kpi.ua/old/article/view/142127

Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах SI-AL ; Modulation-polarization method for internal mechanical stresses measurement in microelectronic structures Si-Al

Authors: Олійник, Остап Олегович

Subject Terms: модуляційна поляриметрія, мікроелектромеханічні системи, оптична анізотропія, механічні напруження, тензорезистивний сенсор тиску, modulation polarimetry, silicon

File Description: application/pdf

Relation: Олійник О. О. Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах SI-AL / О. О. Олійник // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – № 17 (1189). – С. 3-7.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27237

Availability: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27237

Розрахунок механічних напружень на основі вимірювань двопроменезаломлення у звукопроводах ПАХ-пристроїв ; Calculation of mechanical stresses based on birefringence measurements in sound conductors of SAW-devices

Authors: Олійник, Остап Олегович, Жовнір, Микола Федорович, Циганок, Борис Архипович

Subject Terms: механічні напруження, фотопружність, звукопровід, ПАХ-пристрої, модуляційна поляриметрія, ніобат літію, лінія затримки, mechanical stress, photoelasticity, sound conductor, SAW-devices, modulation polarimetry, lithium niobate, delay circuit

File Description: application/pdf

Relation: Олійник О. О. Розрахунок механічних напружень на основі вимірювань двопроменезаломлення у звукопроводах ПАХ-пристроїв / О. О. Олійник, М. Ф. Жовнір, Б. А. Циганок // Вісник Нац. техн. ун-ту "ХПІ" : зб. наук. пр. Сер. : Механіко-технологічні системи та комплекси. – Харків : НТУ "ХПІ", 2016. – № 7 (1179). – С. 66-71.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27809

Availability: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27809

Calculation of mechanical stresses based on birefringence measurements in sound conductors of SAW-devices

Source: Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; Том 7 (2016); 66-71
Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 7 (2016); 66-71

Subject Terms: mechanical stress, photoelasticity, sound conductor, SAW-devices, modulation polarimetry, lithium niobate, delay circuit, механічні напруження, фотопружність, звукопровід, ПАХ-пристрої, модуляційна поляриметрія, ніобат літію, лінія затримки, УДК 621.3.082.55, 535.568, 531.713.8, механические напряжения, фотоупругость, звукопровод, ПАВ-устройства, модуляционная поляриметрия, ниобат лития, линия задержки

File Description: application/pdf

Access URL: http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/93145

Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах SI-AL

Subject Terms: оптична анізотропія, модуляційна поляриметрія, мікроелектромеханічні системи, механічні напруження, silicon, тензорезистивний сенсор тиску, modulation polarimetry

Access URL: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27237

Розрахунок механічних напружень на основі вимірювань двопроменезаломлення у звукопроводах ПАХ-пристроїв

Subject Terms: лінія затримки, модуляційна поляриметрія, SAW-devices, photoelasticity, фотопружність, звукопровід, ПАХ-пристрої, lithium niobate, механічні напруження, mechanical stress, modulation polarimetry, ніобат літію, delay circuit, sound conductor

Access URL: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/27809

Дослідження сенсорних властивостей нанорозмірних плівок діоксину стануму технікою модуляційної поляриметрії

Contributors: Вербицький, Володимир Григорович, ELAKPI

Subject Terms: модуляційна поляриметрія, діоксид олова, сенсори, цеоліти

File Description: application/pdf

Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22984

Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки

Contributors: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв, ELAKPI

Subject Terms: вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, photoelastic microscope, the phase measurement, modulation polarimetry, displacement sensor, сенсор переміщення, фотопружний мікроскоп, повышение чувствительности, підвищення чутливості, модуляционная поляриметрия, сенсор перемещения, измерения фазы, the value of the birefringence, фотоупругий микроскоп, величина двопроменезаломлення, sensitivity increase, величина двулучепреломления

File Description: application/pdf

Access URL: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

Дослідження сенсорних властивостей нанорозмірних плівок діоксину стануму технікою модуляційної поляриметрії

Authors: Перехода, Андрій Сергійович

Contributors: Вербицький, Володимир Григорович

Subject Terms: модуляційна поляриметрія, діоксид олова, цеоліти, сенсори

File Description: 101 с.; application/pdf

Relation: Перехода, А. С. Дослідження сенсорних властивостей нанорозмірних плівок діоксину стануму технікою модуляційної поляриметрії : магістерська дис. : 153 Мікро- та наносистемна техніка / Перехода Андрій Сергійович. – Київ, 2018. – 101 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22984

Availability: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/22984

Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки

Authors: Олійник, Остап Олегович

Contributors: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Факультет електроніки, Кафедра електронних приладів та пристроїв

Subject Terms: підвищення чутливості, величина двопроменезаломлення, вимірювання фази, модуляційна поляриметрія, фотопружний мікроскоп, сенсор переміщення, sensitivity increase, the value of the birefringence, the phase measurement, modulation polarimetry, photoelastic microscope, displacement sensor, повышение чувствительности, величина двулучепреломления, измерения фазы, модуляционная поляриметрия, фотоупругий микроскоп, сенсор перемещения, 621.382.049.774:681.723.2]:535.568](043.3)

File Description: 22 с.; application/pdf

Relation: Олійник, О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. … канд. техн. наук : 05.27.01 – твердотільна електроніка / Олійник Остап Олегович. – Київ, 2017. – 22 с.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

Availability: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/19685

Modulation-polarization method for internal mechanical stresses measurement in microelectronic structures Si-Al

Additional Titles: Модуляционно-поляризационный метод измерения внутренних механических напряжений в микроэлектронных структурах Si-Al
Модуляційно-поляризаційний метод вимірювання внутрішніх механічних напружень в мікроелектронних структурах Si-Al

Authors: Олійник, Остап Олегович; Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут», вул. Політехнічна, 16, корпус №12. Київ, Україна, 03056

Source: Вестник Национального технического университета «ХПИ». Серия: Механико-технологические системы и комплексы; Том 17 (2016); 3-7; Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси; 2411-2828; 2411-2798

Index Terms: modulation polarimetry; mechanical stress in the silicon; the mechanical stresses in the Si-Al, УДК 535.5; 535.347, модуляционная поляриметрия; механические напряжения в кремнии; механические напряжения в Si-Al, модуляційна поляриметрія; механічні напруження в кремнії; механічні напруження в Si-Al, info:eu-repo/semantics/article, info:eu-repo/semantics/publishedVersion

URL: http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/75220
http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/75220/70708
http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/75220/70708