Εμφανίζονται 1 - 5 Αποτελέσματα από 5 για την αναζήτηση '"модальное резервирование"', χρόνος αναζήτησης: 0,46δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1
    Academic Journal

    Συνεισφορές: The study was supported by the Russian Science Foundation grant No. 25-29-00139, https://rscf.ru/project/25-29-00139/, Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда № 25-29-00139, https://rscf.ru/project/25-29-00139/

    Πηγή: Computer Technologies, Automatic Control, Radioelectronics; Том 25, № 1 (2025); 53-68 ; Компьютерные технологии, управление, радиоэлектроника; Том 25, № 1 (2025); 53-68 ; 2409-6571 ; 1991-976X

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

  2. 2
    Academic Journal

    Συνεισφορές: The research was supported by the Russian Science Foundation (project 19-19-00424) and the Ministry of Science and Higher Education (project FEWM-2022-0001) at Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics., Исследование поддержано Российским научным фондом (проект 19-19-00424) и Министерством науки и высшего образования (проект FEWM-2022-0001) в Томском государственном университете систем управления и радиоэлектроники.

    Πηγή: Journal of the Russian Universities. Radioelectronics; Том 26, № 2 (2023); 37-51 ; Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника; Том 26, № 2 (2023); 37-51 ; 2658-4794 ; 1993-8985

    Περιγραφή αρχείου: application/pdf

    Relation: https://re.eltech.ru/jour/article/view/735/676; Gazizov T. R., Zabolotsky A. M. New Approach to EMC Protection // 18th Intern. Zurich Symp. on Electromagnetic Compatibility. Munich, Germany, 24–28 Sept. 2007. P. 273–276. doi:10.1109/EMCZUR.2007.4388248; Medvedev A. V. Studying the Propagation of an Ultrashort Pulses in a Cable Attached to a PCB System with Modal Reservation // IEEE Intern. Conf. of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM), Souzga, Russia, 30 June – 04 July 2021. P. 167–170. doi:10.1109/EDM52169.2021.9507706; Gazizov A. T., Zabolotsky A. M., Gazizov T. R. UWB Pulse Decomposition in Simple Printed Structures // IEEE Trans. on Electromagnetic Compatibility. 2016. Vol. EC-58, iss. 4. P. 1136–1142. doi:10.1109/TEMC.2016.2548783.; Шарафутдинов В. Р., Газизов Т. Р. Анализ способов резервирования на основе модальной фильтрации // Системы управления, связи и безопасности. 2019. № 3. С. 117–144. doi:10.24411/2410-9916-2019-10307; Paul C. R. Introduction to Electromagnetic Compatibility. Wiley Interscience, 2006. 1013 p.; Денисенко В. В. Аппаратное резервирование в промышленной автоматизации. Ч. 1 // Современные технологии автоматизации. 2008. № 2. С. 90–99. URL: https://www.cta.ru/cms/f/369991.pdf (дата обращения 06.01.2023); Денисенко В. В. Аппаратное резервирование в промышленной автоматизации. Ч. 2 // Современные технологии автоматизации. 2008. № 3. С. 94–98. URL: https://www.cta.ru/cms/f/373347.pdf (дата обращения 06.01.2023); Kapur K. C., Pecht M. Reliability engineering. John Wiley & Sons, 2014. 514 p.; Gizatullin Z. M., Gizatullin R. M. Investigation of the Immunity of Computer Equipment to the Power-Line Electromagnetic Interference // J. of Communications Technology and Electronics. 2016. Vol. 61, № 5. P. 546–550. doi:10.1134/S1064226916050053; Patel M. R. Spacecraft Power Systems. CRC Press, 2005. 691 p.; Using N-Norms for Analyzing Symmetric Protective Electrical Circuits with Triple Modal Reservation / Y. S. Zhechev, A. V. Zhecheva, A. A. Kvasnikov, A. M. Zabolotsky // Symmetry. 2021. Vol. 13, № 12. P. 2390. doi:10.3390/sym13122390; Medvedev A. V., Sharafutdinov V. R. Using modal reservation for ultrashort pulse attenuation after failure // IEEE Intern. Multi-Conf. on Engineering, Computer and Information Sciences (SIBIRCON), Novosibirsk, Russia, 21–27 Oct. 2019. P. 293–296. doi:10.1109/SIBIRCON48586.2019.8958018; Medvedev A. V., Zhechev Y. S. Analysis of Frequency Characteristics of a Structure with Single Modal Reservation Before and After Failure // IOP Conf. Ser.: Material Science and Engineering. 2020. Vol. 862, № 022037. P. 1–6. doi:10.1088/1757-899x/862/2/022037; Demakov A. V., Komnatnov M. E. TEM Cell for Testing Low-Profile Integrated Circuits for EMC // Intern. Conf. of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM), Chemal, Russia, 29 June – 03 Jul. 2020. P. 154–158. doi:10.1109/EDM49804.2020.9153508; https://re.eltech.ru/jour/article/view/735

  3. 3
  4. 4
  5. 5