Growth and structure of WC/SI multilayer X-ray mirror ; Рост и структура многослойных рентгеновских зеркал WC/Si ; Ріст та структура багатошарових рентгенівських дзеркал WC/Si

Συγγραφείς: Pershyn, Yuriy P., Chumak, V. S., Shypkova, I. G., Mamon, Valentine V., Devizenko, A. Yu., Kondratenko, Valeriy V., Reshetnyak, M. V., Zubarev, Evgeniy N.

Θεματικοί όροι: WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs), magnetron sputtering, X-ray diffraction, ive-layer model of the WC/Si MXM structure, WC/Si багатошарові рентгенівські дзеркала (MXM), магнетронне розпилення, рентгенівська дифракція, трансмісійна електронна мікроскопія (ТЕМ), п'ятишарова модель структури WC/Si MXM, силіциди вольфраму, карбід кремнію, методы рентгеновской дифракции, рост многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) WC/Si, метод прямоточного магнетронного распыления, силициды вольфрама (WSi2, W5Si3), карбид кремния, пятислойная модель строения МРЗ WC/Si

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: Growth and structure of WC/SI multilayer X-ray mirror / Y. P. Pershyn [et al.] // Вопросы атомной науки и техники = Питання атомної науки та техніки = Problems of Atomic Science and Technology. – 2018. – V. 113, Iss. 1. – P. 69-76.; http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58680

Διαθεσιμότητα: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58680

Growth and structure of WC/Si multilayer x-ray mirror

Συγγραφείς: Pershyn, Yuriy P., Chumak, V. S., Shypkova, I. G., Mamon, Valentine V., Devizenko, A. Yu., Kondratenko, Valeriy V., Reshetnyak, M. V., Zubarev, Evgeniy N.

Θεματικοί όροι: ive-layer model of the WC/Si MXM structure, magnetron sputtering, силициды вольфрама (WSi2, W5Si3), WC/Si багатошарові рентгенівські дзеркала (MXM), ???????????? ?? ???????????????????? ?????????????????????????????? ????????????????????, X-ray diffraction, п'ятишарова модель структури WC/Si MXM, силіциди вольфраму, карбид кремния, магнетронне розпилення, карбід кремнію, рентгенівська дифракція, рост многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) WC/Si, трансмісійна електронна мікроскопія (ТЕМ), WC/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs), методы рентгеновской дифракции, метод прямоточного магнетронного распыления, пятислойная модель строения МРЗ WC/Si

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/137337
http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/58680