Оценка скорости поверхностной рекомбинации в полупроводниковых микроструктурах на основе эффекта магнитоплазменного отражения

Θεματικοί όροι: метод измерений рекомбинационных параметров, скорость поверхностной рекомбинации, оценка скорости поверхностной рекомбинации, поверхностная рекомбинация, эффект магнитоплазменного отражения

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Σύνδεσμος πρόσβασης: https://elib.belstu.by/handle/123456789/61738

Оценка скорости поверхностной рекомбинации в полупроводниковых микроструктурах на основе эффекта магнитоплазменного отражения

Συγγραφείς: Мадьяров, Владимир Рафкатович

Θεματικοί όροι: скорость поверхностной рекомбинации, оценка скорости поверхностной рекомбинации, эффект магнитоплазменного отражения, поверхностная рекомбинация, метод измерений рекомбинационных параметров

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: https://elib.belstu.by/handle/123456789/61738; 537.633.2

Διαθεσιμότητα: https://elib.belstu.by/handle/123456789/61738