АВТОМАТИЗАЦИЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК МДП-СТРУКТУР С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ШИН ISA И PCI

Συγγραφείς: Троян, Павел, Зайцев, Николай

Θεματικοί όροι: МЕТОД ЕМКОСТНОГО ДЕЛИТЕЛЯ,МЕТАЛЛ-ДИЭЛЕКТРИК-ПОЛУПРОВОДНИК (МДП-СТРУКТУРЫ),ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МДП-СТРУКТУР

Περιγραφή αρχείου: text/html

Διαθεσιμότητα: http://cyberleninka.ru/article/n/avtomatizatsiya-izmereniya-harakteristik-mdp-struktur-s-ispolzovaniem-shin-isa-i-pci
http://cyberleninka.ru/article_covers/13932128.png

Автоматизация измерения характеристик МДП-структур с использованием шин ISA и PCI

Πηγή: Доклады Томского государственного университета систем управления и радиоэлектроники.

Θεματικοί όροι: МЕТОД ЕМКОСТНОГО ДЕЛИТЕЛЯ,МЕТАЛЛ-ДИЭЛЕКТРИК-ПОЛУПРОВОДНИК (МДП-СТРУКТУРЫ),ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МДП-СТРУКТУР

Περιγραφή αρχείου: text/html

Σύνδεσμος πρόσβασης: http://cyberleninka.ru/article/n/avtomatizatsiya-izmereniya-harakteristik-mdp-struktur-s-ispolzovaniem-shin-isa-i-pci
http://cyberleninka.ru/article_covers/13932128.png

Переходные процессы в полупроводниковых и диэлектрических диодах : диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук.

Συγγραφείς: Гаман, Василий Иванович

Συνεισφορές: Томский государственный университет, Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск)

Θεματικοί όροι: диссертации, полупроводниковые диоды, диэлектрические диоды, переходные процессы, фотодиоды, рекомбинация носителей заряда в полупроводниках, рекомбинация носителей заряда в диэлектриках, ионизирующие излучения, время жизни носителей заряда, вольтамперные характеристики, магнитные поля, защитные покрытия полупроводниковых диодов, металл-диэлектрик-металл (МДМ), металл-диэлектрик-полупроводник (МДП), металл-полупроводник

Περιγραφή αρχείου: application/pdf

Relation: vtls:000493194; http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000493194

Διαθεσιμότητα: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000493194