-
1Academic Journal
Authors: Ковальчук, Н. С., Пилипенко, В. А., Соловьёв, Я. А.
Subject Terms: доклады БГУИР, двуокись кремния, импульсная фотонная обработка, пирогенное окисление, нитридизация, коэффициент преломления, электрофизические характеристики
File Description: application/pdf
Relation: Ковальчук, Н. С. Влияние импульсной фотонной обработки в среде азота на оптические и электрофизические характеристики слоев двуокиси кремния и ее границы с кремнием = Effect of pulsed photon processing in nitrogen ambient on optical and electrophysical characteristics of silicon dioxide layers and its oundaries with silicon / Н. С. Ковальчук, В. А. Пилипенко, Я. А. Соловьёв // Доклады БГУИР. – 2025. – Т. 23, № 3. – С. 5–11.; https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/61382
-
2Academic Journal
Source: МОДЕЛИРОВАНИЕ, ОПТИМИЗАЦИЯ И ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ. 11:25-26
Subject Terms: коэффициент преломления, refractive index, связь, radio wave propagation, communication, распространение радиоволн, electrodynamics, 14. Life underwater, электродинамика
-
3Academic Journal
Authors: V. A. Solodukha, U. A. Pilipenko, A. A. Omelchenko, D. V. Shestovski, В. А. Солодуха, В. А. Пилипенко, А. А. Омельченко, Д. В. Шестовский
Source: Devices and Methods of Measurements; Том 13, № 3 (2022); 199-207 ; Приборы и методы измерений; Том 13, № 3 (2022); 199-207 ; 2414-0473 ; 2220-9506 ; 10.21122/2220-9506-2022-13-3
Subject Terms: коэффициент преломления, absorption ratio, refraction ratio, коэффициент поглощения
File Description: application/pdf
Relation: https://pimi.bntu.by/jour/article/view/778/630; Nalivaiko O.Yu., Saladukha V.A., Pilipenka U.A., Kolos V.V., Belous A.I., Lipinskaya T.I. The Fundamental Technological Processes for Fabrication of the Semiconductor Devices and Integrated Circuits on Silicon. Vol. 1. Edited by Prof. A.S. Turtsevich. Minsk: Integralpolygraph Publ., 2013, 703 p.; Solodukha V.A., Gorushko V.A., Omelchenko A.A., Pilipenko V.A. Solid Phase Recrystallization of the Mechanically Disrupted Silicon Layer during the Rapid Thermal Processing. Published Reports of the National Academy of Science of Belarus, 2018, vol. 62, no. 3, p. 7, p. 6 (in Russian).; Bondarev V., Gorushko V., Pilipenko V., Solo-dukha V. Characteristic Features of Heating SemiconductorSilicon Structures during the Rapid Thermal Processing in the VLSI Technology. High Temperature Material Process: An International Quarterly of HighTechnology Plasma Processes, 2018, vol. 22, iss. 1, pp. 1–6. DOI:10.1615/HighTempMatProc.2018026506; Tolstoi V.P. Introduction to Optical Absorption Spectroscopy of Nano-Materials. St.Peterburg, SOLO Publ., 2014, pp. 21, 39–48.; Postnikov V.S. Optical Material Science. Perm, Publishing House at Perm State Research Technical University, 2013, pp. 22–38.; Orlov A.M., Kostishko B.M., Skvortzov A.A. Physical Fundamentals of Technology for Semiconductor Devices and Integrated Microcircuits. Uljanovsk, Uljanovsk State University, 2014, pp. 33–35.; Voroshilov Yu.V., Pavlishin V.I. Fundamentals of Crystallography and Crystal Chemistry. Radiographic Analysis of Crystal, Ukraine, TOV “KNT”, 2011, pp. 80–84.; Kononenko V.V., Zavedeev E.V., Latushko M.I., Pashinin V.P., Konov V.I., Dianov E.M. Excitation of the Electronic Subsystem of Silicon by Means of the femtosecond laser irradiation. Quantum Electronics, 2012, vol. 42, no. 10, p. 925–930 (in Russian).; Pikhtin A.N., Khegazee Kh.Kh. Edge of Proper Absorption of Semiconductor Solid Solutions with Straight Structure of Energy Bands. Semiconductor Physics and Engineering, 2009, vol. 43, iss. 10, pp. 1301– 1307 (in Russian).; Khirunenko L.I., Pomozov Yu.V., Sosnin M.G. Optical Properties of Silicon with High Boron Content. Semiconductor Physics and Engineering, 2013, vol. 47, iss. 2, pp. 232–238 (in Russian).; https://pimi.bntu.by/jour/article/view/778
-
4Academic Journal
Authors: N. S. Kozlova, E. A. Levashov, Ph. V. Kiryukhantsev-Korneev, A. D. Sytchenko, E. V. Zabelina, Н. С. Козлова, Е. А. Левашов, Ф. В. Кирюханцев-Корнеев, А. Д. Сытченко, Е. В. Забелина
Contributors: The studies were carried out with financial support within State Assignment FSME-2020-0031 (0718-2020-0031) at the Accredited Test Laboratory of Single Crystals and Stock on their Base of National University of Science and Technology MISiS., Исследования проводились при финансовой поддержке госзадания FSME-2020-0031 (0718-2020-0031). Измерения проведены в МУИЛ Полупроводниковых материалов и диэлектриков «Монокристаллы и заготовки на их основе» (ИЛМЗ) НИТУ «МИСиС».
Source: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; Том 25, № 2 (2022); 154-163 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; Том 25, № 2 (2022); 154-163 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2022-2
Subject Terms: коэффициент преломления, spectral transmission coefficient, spectral reflection coefficient, absorption index, refractive index, спектральный коэффициент пропускания, спектральный коэффициент отражение, показатель поглощения
File Description: application/pdf
Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/479/374; Кондрашин В.И. Определение толщины тонких оптически прозрачных пленок SnO2 конвертным методом. Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки. 2016; 38(2): 93—101. https://izvuz_tn.pnzgu.ru/tn8216; Усанов Д.А., Скрипаль Ал.В., Скрипаль Ан.В., Абрамов А.В., Боголюбов А.С., Бакуи А. Измерение параметров нанометровых пленок оптическими и радиоволновыми методами. Известия высших учебных заведений. Электроника. 2010; 83(3(83)): 44—50. https://elibrary.ru/mngzfd; Киселев Д.А., Жуков Р.Н., Быков А.С., Малинкович М.Д., Пархоменко Ю.Н., Выговская Е.А. Инициирование поляризованного состояния в тонких пленках ниобата лития, синтезированных на изолированные кремниевые подложки. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2012; (2): 25—29. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2012-2-25-29; Журавлева П.Л., Щур П.А., Мельников А.А. Изучение структурных параметров тонких пленок аналитическими методами. Труды ВИАМ. 2019; 78(6): 104—113. https://dx.doi.org/10.18577/2307-6046-2019-0-6-104-113; Шаяпов В.Р. Комплексный подход к определению физических свойств тонких пленок. В сб. материалов: «Третий междисциплинарный молодежный научный форум с международным участием «Новые материалы». Москва, 21–24 ноября 2017 г. М.: ООО «Буки Веди»; 2017: 386. https://elibrary.ru/xnvfyt; Брус В.В., Ковалюк З.Д., Марьянчук П.Д. Оптические свойства тонких пленок TiO2−MnO2, изготовленных по методу электронно-лучевого испарения. Журнал технической физики. 2012; 82(8): 110—113. https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/10683; Бобровников Ю.А., Козарь А.В., Попов К.В., Тихонов А.Н., Тихонравов А.В., Трубецков М.К. Исследование неоднородности тонких пленок спектрофотометрическими методами. Вестник Московского университета. Серия 3. Физика, Астрономия. 1997; (4): 24—27. http://vmu.phys.msu.ru/file/1997/4/97-4-24.pdf; Соколов В.И., Марусин Н.В., Панченко В.Я., Савельев А.Г., Семиногов В.Н., Хайдуков Е.В. Определение показателя преломления, коэффициента экстинкции и толщины тонких пленок методом возбуждения волноводных. Квантовая электроника. 2013; 43(12): 1149—1153. http://www.mathnet.ru/php/archive.phtml?wshow=paper&jrnid=qe&paperid=15272&option_lang=rus; Ванюхин К.Д., Захарченко Р.В., Каргин Н.И., Сейдман Л.А. Технологические особенности формирования прозрачных проводящих контактов из пленки ITO для светодиодов на основе нитрида галлия. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2013; (2): 60—64. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2013-2-60-64; Абгарян К.К., Бажанов Д.И., Мутигуллин И.В. Теоретическое исследование электронных и геометрических характеристик тонких пленок AlN. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. 2015; 18(1): 48—51. https://doi.org/10.17073/1609-3577-2015-1-48-51; Хомченко А.В., Сотский А.Б., Романенко А.А., Глазунов Е.В., Шульга А.В. Волноводный метод измерения параметров тонких пленок. Журнал технической физики. 2005; 75(6): 98—106. https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/8584; Сахбиев Т.Р. Двухчастотные методы определения толщины и диэлектрических параметров тонких пленок. Новое слово в науке: перспективы развития. 2015; 4(6): 171—172. https://elibrary.ru/xxxsbv; Tikhonravov A.V., Trubetskov M.K., Amotchkina T.V., DeBell G., Pervak V., Krasilnikova-Sytchkova A., Grilli M.L., Ristau D. Optical parameters of oxide films typically used in optical coating production. Applied Optics. 2011; 50(9): C75—C85. https://doi.org/10.1364/AO.50.000C75; Tikhonravov A.V., Amotchkina T.V., Trubetskov M.K., Francis R.J., Janicki V., Sancho-Parramon J., Zorc H., Pervak V. Optical characterization and reverse engineering based on multiangle spectroscopy. Applied Optics. 2012; 51(2): 245—254. https://doi.org/10.1364/AO.51.000245; Аюпов Б.М., Зарубин И.А., Лабусов В.А., Суляева В.С., Шаяпов В.Р. Поиск начального приближения при решении обратных задач в эллипсометрии и спектрофотометрии. Оптический журнал. 2011; 78(6): 3—9. https://elibrary.ru/tpoocz; Шмидт В. Оптическая спектроскопия для химиков и биологов. М.: Техносфера; 2007. 362 с.; Кларк Э.Р., Эберхардт К.Н. Микроскопические методы исследования материалов. М.: Техносфера; 2007. 376 с.; Бёккер Ю. Спектроскопия. М.: Техносфера; 2009. 528 с.; Ландсберг Г.С. Оптика: учеб. пособие. 6-е изд. М.: Физмалит; 2006. 848 с.; Константинова А.Ф., Гречушников Б.Н., Бокуть Б.В., Валяшко Е.Г. Оптические свойства кристаллов. Минск: Навука i тэхнiка;1995. 302 с.; Толмачев Г.Н., Ковтун А.П., Захарченко И.Н., Алиев И.М., Павленко А.В., Резниченко Л.А., Вербенко И.А. Синтез, структура и оптические характеристики тонких пленок ниобата бария-стронция. Физика твердого тела. 2015; 57(10): 2050—2055. http://journals.ioffe.ru/articles/42276; Аюпов Б.М., Румянцев Ю.М., Шаяпов В.Р. Особенности определения толщины диэлектрических пленок, полученных в поисковых экспериментах. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010; (5): 100—105. https://elibrary.ru/msqeaj; Manifacier J.C., Gasiot J., Fillard J.P. А simple method for the determination of the optical constants n, h and the thickness of a weakly absorbing thin film. Journal of Physics E: Scientific Instruments. 1976; 9(11): 1002—1004. https://doi.org/10.1088/0022-3735/9/11/032; Swanepoel R. Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon. Journal of Physics E: Scientific Instruments. 1983; 16(12): 1214—1223. https://doi.org/10.1088/0022-3735/16/12/023; Kiryukhantsev-Korneev Ph.V., Sytchenko A.D., Sviridov T.A., Sidorenko D.A., Andreev N.V., Klechkovskay V.V., Polčak J., Levashov E.A. Effects of doping with Zr and Hf on the structure and properties of Mo-Si-B coatings obtained by magnetron sputtering of composite targets. Surface and Coatings Technology. 2022: 128141. https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2022.128141; Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука; 1970. 855 с.; Карамалиев Р.А., Каджар Ч.О. Оптические свойства композитных тонких пленок, содержащих наночастицы серебра. Журнал прикладной спектроскопии. 2012; 79(3): 424—429. https://elibrary.ru/oxoqwf; Шалимова К.В. Физика полупроводников: учебник. М.: Энергия; 1971. 400 с.; Ефимов А.М. Оптические свойства материалов и механизмы их формирования: учеб. пособие. СПб.: СПбГУИТМО; 2008. 103 с.; Борен К., Хафмен Д. Поглощение и рассеяние света малыми частицами / пер. с англ. М.: Мир; 1986. 664 с.; https://met.misis.ru/jour/article/view/479
-
5Academic Journal
Authors: Юрченко, Алексей Васильевич, Нешина, Елена Геннадьевна, Алькина, Алия Даулетхановна, Мади, Перизат Шаймуратовна, Мехтиев, Али Джаванширович
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2020. Т. 63, № 2. С. 129-136
Subject Terms: волоконно-оптические датчики, датчики давления, одномодовые оптические волокна, информационно-измерительные системы, фотоупругость, интерференция волн, коэффициент преломления, микроизгибы
File Description: application/pdf
Relation: vtls:000708252; https://openrepository.ru/article?id=456261
-
6Academic Journal
Authors: E. V. Zabelina, N. S. Kozlova, Z. A. Goreeva, V. M. Kasimova, Е. В. Забелина, Н. С. Козлова, Ж. А. Гореева, В. М. Касимова
Contributors: The work was accomplished with financial support from the Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation within the framework of a state assignment (fundamental research, project No. 0718-2020-0031). The experiments were carried out at the Inter-University Test Laboratory for semiconductors and dielectrics “Single Crystals and Stock on their Base” of the National University of Science and Technology MISiS. The authors are grateful to JSC Fomos-Materials and O.A. Buzanov for the samples provided., Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования РФ в рамках государственного задания (фундаментальные исследования, проект № 0718-2020-0031). Исследования проведены в МУИЛ Полупроводниковых материалов и диэлектриков «Монокристаллы и заготовки на их основе» (ИЛМЗ) НИТУ «МИСиС». Авторы выражают благодарность АО «Фомос-Материалы» и О.А. Бузанову за предоставленные образцы.
Source: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; Том 22, № 3 (2019); 168-178 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; Том 22, № 3 (2019); 168-178 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2019-3
Subject Terms: коэффициент преломления, spectral dependences of reflection, s-polarization, p-polarization, extinction coefficient, Brewster angle, refractive index, спектральные зависимости отражения, s-поляризация, p-поляризация, коэффициент экстинкции, угол Брюстера
File Description: application/pdf
Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/384/295; Шендрик Р. Ю. Методы экспериментальной физики конденсированного состояния. Введение в физику сцинтилляторов: учебное пособие. Иркутск: Изд-во Иркутского Государственного Университета, 2013. 110 с.; Ogiegło J. M. Luminescence and energy transfer in garnet scintillators: PhD Thesis. Utrecht, 2012. 118 p.; Lecoq P. Development of new scintillators for medical applications // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 2016. V. 809. P. 130—139. DOI:10.1016/j.nima.2015.08.041; Tamulaitis G. Fast optical phenomena in self-activated and Ce-doped materials prospective for fast timing in radiation detectors // Engineering of scintillation materials and radiation technologies, Springer Proceedings in Physics. 2017. V. 200. P. 35—54. DOI:10.1007/978-3-319-68465-9_2; Dorenbos P. Directions in scintillation materials research // Radiation Detectors for Medical Applications. 2006. P. 191—207. DOI:10.1007/1-4020-5093-3_8; Ханин В. М. Сцинтилляционные процессы в активированных церием керамиках со структурой граната: диcс. канд. физ.-мат. наук. СПб., 2017. 173 с.; Alenkov V., Buzanov O., Dosovitskiy G., Egorychev V., Fedorov A., Golutvin A., Guz U., Jacobsson R., Korjik M., Kozlov D., Mechinsky V., Schopper A., Semennikov A., Shatalov P., Shmanin E. Irradiation studies of a multi-doped Gd3Al2Ga3O12 scintillator // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 2019. V. 916. P. 226—229. DOI:10.1016/j.nima.2018.11.101; Seitz B., Stewart A. G., O’Neill K., Wall L., Jackson C. Performance evaluation of novel SiPM for medical imaging applications // IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC). 2013. P. 1—4. DOI:10.1109/NSSMIC.2013.6829685; Basiev T. T., Osiko V. V. New materials for SRS lasers // Russian Chemical Reviews. 2006. V. 75, N 10. P. 847—862. DOI:10.1070/RC2006v075n10ABEH003626; Khanbekov N. D. AMoRE: Collaboration for searches for the neutrinoless double-beta decay of the isotope of 100Mo with the aid of 40Ca100MoO4 as a cryogenic scintillation detector // Physics of Atomic Nuclei. 2013. V. 76, N 9. P. 1086—1089. DOI:10.1134/S1063778813090093; ГОСТ 8.654-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Фотометрия. Термины и определения. Москва: Стандартинформ, 2016. 12 с.; Физический энциклопедический словарь. М.: Советская энциклопедия, 1984. 944 с.; Сивухин Д. В. Общий курс физики: учебное пособие для вузов (в 5 т.). Т. 4. Оптика. М.: Физмалит, 2005. 792 с.; Борисенко С. И., Ревинская О. Г., Кравченко Н. С., Чернов А. В. Показатель преломления света и методы его экспериментального определения. Томск: Томский политехнический университет, 2014. 146 с.; Шубников А. В. Основы оптической кристаллографии. М.: Изд-во Академии наук СССР, 1959. 205 с.; Федоров Ф. И. Оптика анизотропных сред. Минск: Изд-во Академии Наук БССР, 1958. 381 с.; Кларк Э. Р., Эберхардт К. Н. Микроскопические методы исследования материалов. М.: Техносфера, 2007. 375 с.; Шмидт В. Оптическая спектроскопия для физиков и биологов. М.: Техносфера, 2007. 368 с.; Лодочников В. Н. Основы кристаллооптики. М.; Л.: Госгеолиздат, 1947. 268 с.; Фабелинский И. Л. Молекулярное рассеяние света. М.: Наука, 1965. 511 с.; Веселаго В. Г. Электродинамика материалов с отрицательным коэффициентом преломления // Успехи физических наук, 2003. Т. 173, № 7. С. 790—794. DOI:10.3367/UFNr.0173.200307m.0790; Тептин Г. М., Хуторова О. Г., Зинин Д. П., Хуторов В. Е. Исследование мезомасштабных неоднородностей коэффициента преломления радиоволн в тропосфере методами численного моделирования // Известия вузов. Радиофизика. 2010. Т. 53, № 1. С. 1—13. https://radiophysics.unn.ru/sites/default/files/papers/2010_1_1.pdf; Букин О. А., Быкова Е. А., Голик С. С., Землянов А. А., Гейнц Ю. Э., Ильин А. А., Кабанов А. М., Матвиенко Г. Г., Ошлаков В. К., Соколова Е. Б. Филаментация остросфокусированного ультракороткого лазерного излучения на 800 и 400 нм. Измерения нелинейного коэффициента преломления воздуха // Оптика атмосферы и океана. 2011. Т. 24, № 5. С. 351—358.; Лагарьков А. Н., Кисель В. Н. Качество фокусировки электромагнитного излучения плоскопараллельной пластиной из вещества с отрицательным коэффициентом преломления // Доклады Академии наук, 2004. Т. 394, № 1. С. 40—45.; Вендик И. Б., Вендик О. Г. Метаматериалы и их применение в технике сверхвысоких частот (Обзор) // Журнал технической физики, 2013. Т. 83, № 1. С. 3—28. https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/41403; Паршуков В. А., Кутуза Б. Г. Астрономическая рефракция в условиях слоистых неоднородностей коэффициента преломления воздуха // Радиотехника и электроника, 2012. Т. 57, № 2. С. 33.; Днепровский В. С., Жуков Е. А., Кабанин Д. А., Лясковский В. Л., Ракова А. В., Wumaier T. Нелинейное поглощение и преломление света в коллоидном растворе квантовых точек CdSe/ZnS при резонансном двухфотонном возбуждении // Физика твердого тела, 2007. Т. 49, № 2. С. 352—356. https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/2939; Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 720 с.; Кизель В. А. Отражение света. М.: Наука, 1973. 352 с.; Вавилов В. С. Действие излучений на полупроводники. М.: Государственное издательство физико-математической литературы, 1963. 264 с.; Борен К., Хафмен Д. Поглощение и рассеяние света малыми частицами. М.: Мир, 1986. 664 с.; Ефимов А. М. Оптические свойства материалов и механизмы их формирования. СПб.: СПбГУИТМО, 2008. 103 с.; ГОСТ 28869-90 Материалы оптические. Методы измерений показателя преломления. М.: Изд-во стандартов, 2018. 17 с.; Иверонова В. И., Белянкин А. Г., Мотулевич Г. П., Четверикова Е. С., Яковлев И. А. Физический практикум: электричество и оптика. М.: Наука, 1968. 818 с.; Kozlova N. S., Kozlova A. P., Goreeva Zh. A. Spectrophotometric methods and their capabilities to study material optical parameters // IEEE 2nd International Ural Conference on Measurements (UralCon). Chelyabinsk (Russia), 2017. P. 281—288. DOI:10.1109/URALCON.2017; Kozlova N. S., Kozlova A. P., Zabelina E. V., Goreeva Zh. A., Didenko I. S., Burt T. Spectrophotometric Methods of Refractive Indices Measurement. Measuring the refractive index of single crystal optical materials using two methods // Agilent Application Note, 2019. URL: https://www.agilent.com/cs/library/applications/application-refractive-index-cary-5000-uv-vis-5994-0052en-us-agilent.pdf; Kozlova N. S., Goreeva Zh. A., Zabelina Ev. V. Testing quality assurance of single crystals and stock on their base // IEEE 2nd Internat. Ural Conf. on Measurements (UralCon). Chelyabinsk (Russia), 2017. P. 15—22. DOI:10.1109/URALCON.2017.8120681; Гореева Ж. А., Быкова М. Б., Козлова А. П., Сидорин В. В., Диденко И. С., Забелина Е. В. Роль стандартных образцов в обеспечении единства измерений оптических свойств монокристаллов и заготовок на их основе // II-я Международная научная конференция «Стандартные образцы в измерениях и технологиях». Екатеринбург, 2015. С. 214—218.; Palik E. D. Handbook of optical constants of solids. New York: Academic press, 1998. 3224 p.; Kozlova N. S., Buzanov O. A., Kasimova V. M., Kozlova A. P., Zabelina E. V. Optical characteristics of single crystal Gd3Al2Ga3O12 : Ce // Modern Electronic Materials. 2018. V. 4, N 1. P. 7 —12. DOI:10.3897/j.moem.4.1.33240; Kозис Е. В., Задерновский А. А. Экспериментальное определение показателя преломления прозрачного материала различными методами: лабораторная работа. М.: МИРЭА, 2002. 12 с.; Stephenson D. Modeling variation in the refractive index of optical glasses. Thesis. New York: Rochester Institute of Technology, 1990. 163 p.; https://met.misis.ru/jour/article/view/384
-
7Academic Journal
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2020. Т. 63, № 12. С. 3-8
Subject Terms: коэффициент преломления, пленки диоксида титана, ионно-плазменное распыление, отжиг пленок
File Description: application/pdf
-
8Academic Journal
Authors: В.Й. Климченко, Г.Г. Камалтинов, В.Л. Місайлов, Г.В. Рибалка, В.И. Климченко, Г.Г. Камалтынов, В.Л. Мисайлов, Г.В. Рыбалка, V. Klimchenko, G. Kamaltynov, V. Misailov, H. Rybalka
Source: Збірник наукових праць Харківського національного університету Повітряних Сил. — 2019. — № 3(61). 86-95 ; Сборник научных трудов Харьковского национального университета Воздушных Сил. — 2019. — № 3(61). 86-95 ; Scientific Works of Kharkiv National Air Force University. — 2019. — № 3(61). 86-95 ; 2073-7378
Subject Terms: Зв’язок, радіотехніка, радіолокація, акустика та навігація, УДК 621.396.96, трикоординатні радіолокаційні станції, радіолокаційні висотоміри, точність вимірю-вання висоти, рефракція радіохвиль в атмосфері, градієнт коефіцієнта заломлення, точность измерения высоты, трехкоординатные радиолокационные станции, радиолокацион-ные высотомеры, рефракция радиоволн в атмосфере, коэффициент преломления, height accuracy, three-dimensional radar, radar altimeter, atmospheric radio waves refraction, coefficient of re-fraction
File Description: application/pdf
Relation: http://www.hups.mil.gov.ua/periodic-app/article/19484/zhups_2019_3_13.pdf; http://www.hups.mil.gov.ua/periodic-app/article/19484
Availability: http://www.hups.mil.gov.ua/periodic-app/article/19484
-
9
-
10Academic Journal
Authors: V. A. Pilipenko, V. A. Solodukha, V. A. Gorushko, A. A. Omelchenko, В. А. Пилипенко, В. А. Солодуха, В. А. Горушко, А. А. Омельченко
Source: Doklady of the National Academy of Sciences of Belarus; Том 62, № 3 (2018); 347-352 ; Доклады Национальной академии наук Беларуси; Том 62, № 3 (2018); 347-352 ; 2524-2431 ; 1561-8323 ; 10.29235/1561-8323-2018-62-3
Subject Terms: коэффициент поглощения, disrupted layer, silicon wafer, solid phase re-crystallization, diffraction ratio, absorption ratio, нарушенный слой, кремниевая пластина, твердофазная рекристаллизация, коэффициент преломления
File Description: application/pdf
Relation: https://doklady.belnauka.by/jour/article/view/528/532; Tong, Q.-Y. Wafer bonding and layer splitting for Microsystems / Q.-Y. Tong, М. Gosele // Adv. Mater. – 1999. – Vol. 11, N 17. – Р. 1409–1425. https://doi.org/10.1002/(sici)1521-4095(199912)11:17%3C1409::aid-adma1409%3E3.0.co;2-w; Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев – М.: Микрон-принт, 1999. – Ч. 2. – 216 с.; Концевой, Ю. А. Пластичность и прочность полупроводниковых материалов и структур / Ю. А. Концевой, Ю. М. Литвинов, Э. А. Фаттахов – М.: Радио и связь, 1982. – 240 с.; Свойства поверхности кремния после лазерной обработки импульсами наносекундной длительности / В. А. Пи-липенко [и др.] // ИФЖ. – 2008. – Т. 81, № 9. – C. 592.; Степаненко, И. П. Основы микроэлектроники / И. П. Степаненко – М.: Сов. радио, 1980. – 424 с.; https://doklady.belnauka.by/jour/article/view/528
-
11
-
12Academic Journal
Authors: L. Vázquez, S. Jiménez, A. B. Shvartsburg, Л. Васкес, С. Хименес, А. Б Шварцбург
Contributors: Instituto de Investigaciones Económicas y Sociales Francisco de Vitoria
Source: Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering; Том 19, № 2 (2016); 103-107 ; Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники; Том 19, № 2 (2016); 103-107 ; 2413-6387 ; 1609-3577 ; 10.17073/1609-3577-2016-2
Subject Terms: антиэйкональный предел, refractive index, anti-eikonal, коэффициент преломления
File Description: application/pdf
Relation: https://met.misis.ru/jour/article/view/269/225; Kennedy, S. R. Porous broadband antireflection coating by glancing angle deposition / S. R. Kennedy, M. J. Brett // Applied Optics. - 2003. - V. 42, N 22. - P. 4573—4579. DOI:10.1364/AO.42.004573; O’Brien, S. Magnetic activity at infrared frequencies in structured metallic photonic crystals / S. O’Brien, J. P. Pendry // J. Physics: Condensed Matter. - 2002. - V. 14, N 25. - P. 6383—6394. DOI:10.1088/0953-8984/14/25/307; Alù, A. Negative effective permeability and left-handed materials at optical frequencies / A. Alù, A. Salandrino, N. Engheta // Optics Express. - 2006. - V. 14, N 4. - P. 1557—1567. DOI:10.1364/OE.14.001557; Zhao, Q. Mie resonance-based dielectric metamaterials / Q. Zhao, J. Zhou, J. Zhang, F. Lippens // Materials Today. - 2009. - V. 12, N 12. - P. 60—69. DOI:10.1016/S1369-7021(09)70318-9; Borisov, A. G. Role of electromagnetic trapped modes in extraordinary transmission in nanostructured materials / A. G. Borisov, F. J. García de Abajo, S. V. Shabanov // Phys. Rev. B. - 2005. - V. 71. - P. 075408. DOI:10.1103/PhysRevB.71.075408; García de Abajo, F. J. Tunneling Mechanism of light transmission through metallic films / F. J. García de Abajo, G. Gómez- Santos, L. A. Blanco, A. G. Borisov, S. V. Shabanov // Phys. Rev. Lett. - 2005. - V. 95. - P. 067403. DOI:10.1103/PhysRevLett.95.067403; Gilles, L. Electromagnetic shocks on the optical cycle of ultrashort pulses in triple-resonance Lorentz dielectric media with subfemtosecond nonlinear electronic Debye relaxation / L. Gilles, J. V. Moloney, L. Vázquez // Phys. Rev. E. - 1999. - V. 60, N 1. - P. 1051—1059. DOI:10.1103/PhysRevE.60.1051; Porras, M. A. Creation of localized optical waves that do not obey the radiation condition at infinity / M. A. Porras, F. Salazar- Bloise, L. Vázquez // Phys. Rev. Lett. - 2000. - V. 85, N 10. - P. 2104— 2107. DOI:10.1103/PhysRevLett.85.2104; Porras, M. A. Focusing properties of shocking optical pulses / M. A. Porras, F. Salazar-Bloise, L. Vázquez // Optics Lett. - 2001. - V. 26, N 6. - P. 376—378. DOI:10.1364/OL.26.000376; В период 2004—2012 гг. и в ходе работы «Access to Research Infrastructures» Европейская лаборатория нелинейной спектроскопии (LENS), Флоренция, предоставляла экспериментальную базу для нашего теоретического исследования образования и характеристик электромагнитных ударных волн в рамках проектов LENS000242 (2004): http://www.laserlabeurope.eu/transnational-access/access-facilities/access-projects-lens, LENS001677 (2012): https://laserlab.mbi-berlin.de/access/publish/listAccessProjects.jsf; Shvartsburg, A. B. Waves in gradient metamaterials / A. B. Shvartsburg, A. A. Maradudin. - Hackensack (NJ); London : World Scientific Pub. Co., 2013. - 328 p.; Kravtsov, Yu. A. Geometric optics in engineering physics / Yu. A. Kravtsov. - Harrow (UK) : Alpha Science International, 2005.; Born, M. Principles of optics / M. Born, E. Wolf. - Cambridge (UK) : Cambridge University Press, 1998.; Bender, C. M. Advanced mathematical methods for scientists and engineers / C. M. Bender, S. A. Orzag. - New York : Springer-Verlag, 1999.; Konotop, V. V. Wave interaction with a fractal layer / V. V. Konotop, Fei Zhang, L. Vázquez // Phys. Rev. E. - 1993. - V. 48, N 5. - P. 4044—4048. DOI:10.1103/PhysRevE.48.4044; Rañada, A. F. Quantum mechanics of nonlinear classical fields / A. F. Rañada, L. Vázquez // Anales de Física - 1980. - V. 76. - P. 139—141. DOI:10.1007/BF01807613; https://met.misis.ru/jour/article/view/269
-
13Academic Journal
Authors: Андрианова Анна Владимировна, Виноградова Ирина Леонидовна, Султанов Альберт Ханович, Мешков Иван Константинович, Абдрахманова Гузель Идрисовна, Грахова Елизавета Павловна, Ишмияров Арсен Арамаисович, Янтилина Лилия Зуфаровна
Subject Terms: нанокристаллический материал, ситалловое стекло, коэффициент преломления, уникальная научная установка, полностью оптические сети
File Description: text/html
-
14Academic Journal
-
15Academic Journal
Authors: Нгуен, Суан
File Description: text/html
-
16Academic Journal
Source: Компьютерная оптика; Vol 36, No 1 ; Computer Optics; Vol 36, No 1 ; 2412-6179 ; 0134-2452
Subject Terms: guidelines refractive index, “self.influence” effect, focusing, finite.difference scheme, accuracy of approximation, research of convergence, sweep method, parallel algorithm, supercompute, коэффициент преломления, эффект «самовоздействия», фокусировка, конечно-разностная схема, погрешность аппроксимации, исследование сходимости, метод прогонки, параллельный алгоритм, суперкомпьютер
File Description: application/pdf
Relation: http://www.computeroptics.smr.ru//article/view/1562/1564; http://www.computeroptics.smr.ru//article/view/1562
Availability: http://www.computeroptics.smr.ru//article/view/1562
-
17Academic Journal
Subject Terms: оптические кабеля, кабельные полимеры, коэффициент преломления, параметры оптического волокна, cable polymers, refractive index, optical fiber parameters
File Description: application/pdf
Availability: http://repository.kpi.kharkov.ua/handle/KhPI-Press/10740
-
18Academic Journal
-
19Academic Journal
Authors: Козлова, Елена, Котляр, Виктор
Subject Terms: КВАРЦЕВОЕ СТЕКЛО, МОДЕЛЬ ДИСПЕРСИИ, ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОНИЦАЕМОСТЬ, КОЭФФИЦИЕНТ ПРЕЛОМЛЕНИЯ, КОЭФФИЦИЕНТ ПОГЛОЩЕНИЯ, УЛЬТРАКОРОТКИЙ ИМПУЛЬС
File Description: text/html
-
20Academic Journal
Authors: Седов, В., Корнюхин, В.
Subject Terms: ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПЛАСТИНА,КОЭФФИЦИЕНТ ОТРАЖЕНИЯ,ГРАНИЦА РАЗДЕЛА,КОЭФФИЦИЕНТ ПРЕЛОМЛЕНИЯ,ОПТИЧЕСКАЯ ТОЛЩИНА,СИНТЕЗ,СТУПЕНЧАТЫЙ ПЕРЕХОД
File Description: text/html
